X射線粉末衍射技術-測量與分析基礎 王春建 9787122457202 【台灣高等教育出版社】
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物品所在地：中國大陸
原出版社：化學工業
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| *完成訂單後正常情形下約兩周可抵台。 *本賣場提供之資訊僅供參考，以到貨標的為正確資訊。 印行年月：202408*若逾兩年請先於私訊洽詢存貨情況，謝謝。 台灣(台北市)在地出版社，每筆交易均開具統一發票，祝您中獎最高1000萬元。 書名：X射線粉末衍射技術-測量與分析基礎 ISBN：9787122457202 出版社：化學工業 著編譯者：王春建 頁數：184 所在地：中國大陸 *此為代購商品 書號：1672457 可大量預訂，請先連絡。 內容簡介 本書內容主要分為五部分：X射線粉末衍射技術的發展歷程和功能應用；X射線衍射儀器、光路配置、樣品製備和測量過程；物相分析的基本原理、分析過程、注意事項、結果評價和部分實例；X射線衍射儀器的維護保養和輻射安全；X射線衍射技術的學習方法論。 本書著重介紹衍射圖譜的產生過程和各類影響因素，以及與物相分析功能的相關性。在測量技術方面，詳細介紹了衍射儀中各類光路元器件的工作原理和參數設置，並對測量過程的每個環節進行了詳細論述。在物相分析方面，針對最常用的物相鑒定功能開展了鑒定原理、鑒定方法、鑒定技巧、資料庫應用等方面的詳細論述，併為鑒定結果的可信度提出評估方法和依據；針對物相定量分析、微結構分析等深層次功能，由淺入深地介紹了數學原理的推導、功能發展的歷程，以及部分案例的應用，並且論證了分析方法的簡化過程等內容。最後對衍射儀的維護保養、X射線輻射安全等方面進行了詳細介紹，並對X射線衍射技術的學習方法和技巧進行了深入討論，總結性指出了技術能力晉陞的途徑。 本書可作為相關專業本科生、研究生的教學用書，也可作為從事X射線衍射測量和物相分析工作的技術人員的參考書。作者簡介 王春建，1982年出生，山東慶雲人，博士，副教授，碩士生導師，主要從事材料表徵與分析——X射線多晶衍射技術方向的科學研究和教學工作，現就職于昆明理工大學分析測試研究中心（雲南省分析測試中心）。 主持參与國家級、省部級等自然科學基金項目15項，發表學術論文26篇，申報發明專利5項，參与修訂X射線衍射領域行業標準1項，參与修訂地方標準1項，開展線上/線下X射線衍射技術講座培訓近50次。 現任英國Malvem Panalytical（馬爾文帕納科）公司X射線聯合實驗室XRD特邀應用專家、Honarary Scientist，馬爾文帕納科X射線分析儀器用戶會常設組織委員會委員，日本RIGAKU（理學）公司中國X射線衍射儀用戶協會委員，中國丹東浩元儀器公司特邀培訓講師，《冶金分析》青年編委，《分析儀器》編委，「中國材料與試驗標準化委員會-科學試驗領域/科學試驗創新方法技術/結構形貌創新方法標準化分技術委員會」委員。目錄 第1章 晶體與X射線衍射現象1 1 晶體與非晶體 1 2 晶體的X射線衍射現象 1 3 X射線衍射現象的發現 1 4 X射線衍射現象的意義 1 5 X射線物相分析依據 1 6 X射線粉末衍射儀 小結 第2章 X射線粉末衍射功能與應用 2 1 物相鑒定 2 2 物相定量 2 3 結晶度分析 2 4 晶胞參數分析 2 5 固溶度分析 2 6 納米晶粒尺寸與微觀應變分析 2 7 殘餘應力分析 2 8 擇優取向與織構分析 小結 第3章 X射線衍射儀與測量光路 3 1 衍射儀基本組成 3 2 衍射光路組成 3 3 X射線管 3 4 幾何測角儀 3 5 探測器 3 6 光學元器件 3 6 1 索拉狹縫 3 6 2 發散狹縫、防散射狹縫、接收狹縫 3 6 3 濾光裝置 3 6 4 其他光學元器件 3 7 常用樣品台 3 7 1 平板樣品台 3 7 2 自動進樣器 3 7 3 微區樣品台 3 7 4 多軸樣品台 3 7 5 高溫樣品台 第4章 測量與參數 4 1 測量程序與參數 4 2 儀器參數 4 3 狹縫參數 4 4 樣品製備參數 4 5 測量範圍 4 6 測量速率 4 7 測量步長 4 8 測量模式 4 9 測量時間 4 10 薄膜掠入射參數 4 11 高溫衍射參數 第5章 樣品製備技術 5 1 樣品製備影響因素 5 2 樣品製備方法 5 3 粉末樣品的粒度控制 5 4 自製標樣 5 5 實例分析 第6章 物相定性分析 6 1 物相定義 6 2 PDF卡片與資料庫 6 3 檢索軟體 6 3 1 軟體定性檢索原理 6 3 2 軟體定性檢索步驟 6 3 3 軟體定性檢索方法 6 4 物相定性分析判斷依據 6 5 注意事項與常用技巧 第7章 物相定性結果評估 7 1 測量質量評估 7 2 數據平滑處理 7 3 本底與Kα2扣除 7 4 偽峰識別 7 5 定性分析影響因素 7 6 定性分析學習方法 7 7 常見問題實例 小結 第8章 物相定量分析 8 1 物相定量方法概述 8 2 參比強度法 8 3 公式類比與準確度 8 3 1 公式類比 8 3 2 定量準確度 8 4 參比強度法的限制與擴展 8 5 全譜擬合結構精修法 8 5 1 歷史發展 8 5 2 Rietveld精修原理 8 5 3 Rietveld物相定量原理 8 6 Rietveld精修法定量實例 8 6 1 測量圖譜和晶體文件輸入 8 6 2 晶體基本參數編輯 8 6 3 擬合參數編輯 8 6 4 計算圖譜與深度編輯 8 6 5 全譜擬合與定量 8 6 6 結果輸出 第9章 衍射線形分析 9 1 衍射線形 9 2 納米晶粒引起的半高寬 9 3 微觀應變引起的半高寬 9 4 兩種效應引起的綜合半高寬 9 5 衍射線形與結晶度 9 6 擬合分峰處理 9 6 1 背景標定 9 6 2 擬合分峰 9 7 結晶度的計算方法 第10章 晶胞參數精密分析 10 1 晶胞參數簡介 10 2 晶胞參數的計算方法 10 3 計算偏差的來源 10 4 計算偏差的控制 10 4 1 機械校正 10 4 2 測量方法校正 10 4 3 外推函數法校正 10 5 尋峰偏差 10 6 「線對法」計算晶胞參數 第11章 儀器維護與輻射安全 11 1 硬體維護 11 1 1 X射線管的日常維護 11 1 2 水冷系統的日常維護 11 1 3 測角儀的日常維護 11 1 4 樣品台的日常維護 11 2 光路校準 11 2 1 單色器 11 2 2 測角儀零點 11 2 3 「切光法」光路校準 11 3 其他維護 11 4 X射線的電離輻射 11 5 電離輻射安全防護 第12章 學習方法論 12 1 常見概念與分類 12 1 1 散射與衍射 12 1 2 布拉格角與衍射角 12 1 3 物相分析與結構解析 12 1 4 理論學習與實踐分析 12 2 衍射測量經驗談 12 2 1 關於X射線衍射儀 12 2 2 關於應用光路 12 2 3 關於數據分析軟體 12 3 學習歷程分享 12 4 六級階梯 參考文獻 詳細資料或其他書籍請至台灣高等教育出版社查詢，查後請於PChome商店街私訊告知ISBN或書號，我們即儘速上架。 |
