材料表徵基礎 王榮明 孫穎慧 張俊英等 9787111773498 【台灣高等教育出版社】

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書名：材料表徵基礎
ISBN：9787111773498
出版社：機械工業
著編譯者：王榮明 孫穎慧 張俊英等
頁數：223
所在地：中國大陸 *此為代購商品
書號：1737283
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編輯推薦

為了全面獲得材料在納米尺度的結構和特性，國內外科學家發展出了許多高分辨能力的材料表徵手段。準確全面地總結納米材料的先進表徵方法，將為我國在納米科技這個戰略性新興領域的人才培養提供良好基礎。本書正是在這樣的大背景下應運而生的，旨在為廣大材料科技工作者、高校師生以及對納米科技感興趣的讀者提供一個全面、系統的學習和參考資源

內容簡介

為了全面獲得材料在納米尺度的結構和特性，國內外科學家發展出了許多高分辨能力的材料表徵手段。準確全面地總結納米材料的先進表徵方法，將為我國在納米科技這個戰略性新興領域的人才培養提供良好基礎。本書正是在這樣的大背景下應運而生的，旨在為廣大材料科技工作者、高校師生以及對納米科技感興趣的讀者提供一個全面、系統的學習和參考資源。本書主要包括晶體學、X射線衍射、電子光學與電子顯微學、掃描電子顯微術、透射電子顯微術、多功能掃描探針顯微術、譜學分析等材料表徵基礎，書中的實例分析重點引入了近年來材料表徵方法在納米材料微觀組織結構表徵和分析方面的最新成果。 本書可作為新材料、納米科技領域相關專業的本科生和研究生教材和教學參考書，也可供物理學、化學、工程等相關專業師生和從事材料研究及分析檢測的人員學習參考。

目錄

前言
第1章 材料表徵的物理學基礎
1 1 晶體結構基礎
1 1 1 晶體的宏觀特性
1 1 2 晶體的微觀特性
1 1 3 晶向、晶面及其標誌
1 1 4 二維晶體學
1 1 5 三維晶體學
1 1 6 非晶態和准晶
1 2 倒易空間
1 2 1 倒易點陣的定義
1 2 2 倒易點陣基矢
1 2 3 倒易點陣和晶格點陣的關係
1 2 4 晶帶與晶帶定律
1 2 5 度量張量
1 2 6 系統消光
1 3 電磁波、粒子束與物質相互作用基礎
1 3 1 電磁波與粒子束
1 3 2 基本相互作用
1 3 3 光子與物質的相互作用
1 3 4 γ射線與物質的相互作用
1 3 5 電子束與物質的相互作用
1 3 6 中子束與物質的相互作用
思考題
參考文獻
第2章 X射線衍射
2 1 X射線的研究簡史和基本性質
2 1 1 X射線的發展歷程
2 1 2 X射線的基本原理和性質
2 1 3 X射線的產生
2 1 4 連續X射線譜和特徵X射線譜
2 2 X射線與物質相互作用
2 2 1 X射線與物質的作用
2 2 2 X射線衍射的幾何條件
2 2 3 X射線衍射線的強度
2 3 衍射實驗方法與衍射儀
2 3 1 單晶衍射
2 3 2 粉末衍射
2 3 3 薄膜衍射
2 4 物相分析
2 4 1 定性物相分析
2 4 2 定量物相分析
2 5 晶粒尺寸分析
2 5 1 X射線衍射峰的加寬
2 5 2 謝樂公式
2 5 3 Williamson-Hall法
2 6 小角掠入射
2 6 1 掠入射X射線全反射
2 6 2 薄膜性質對X射線反射率的影響
2 6 3 X射線反射測定薄膜厚度
2 7 其他X射線技術及其展望
思考題
參考文獻
第3章 透射電子顯微學
3 1 透射電子顯微學基礎
3 1 1 電子顯微學發展歷史
3 1 2 透射電子顯微鏡的基本構造及工作原理
3 1 3 樣品製備
3 2 電子衍射譜
3 2 1 電子衍射的基本概念
3 2 2 電子衍射的標定
3 2 3 獲取電子衍射的實驗方法
3 3 電子顯微像與襯度
3 3 1 電子顯微像的襯度
3 3 2 質厚襯度
3 3 3 衍射襯度
3 4 高分辨透射電子顯微術
3 4 1 高分辨透射電子顯微學的基本理論
3 4 2 高分辨透射電子顯微像和應用實例
3 4 3 高分辨透射電子顯微像模擬
3 5 分析電子顯微學
3 5 1 掃描透射電子顯微術
3 5 2 能量色散X射線譜
3 5 3 電子能量損失譜
思考題
參考文獻
第4章 掃描電子顯微術
4 1 掃描電鏡的工作原理和構造
4 1 1 工作原理
4 1 2 基本構造
4 2 掃描電鏡的主要性能
4 2 1 解析度
4 2 2 放大倍數
4 3 掃描電鏡成像的襯度原理
4 3 1 二次電子成像原理及其襯度
4 3 2 背散射電子成像原理及其襯度
4 3 3 其他電子成像及其襯度
4 4 電子背散射衍射技術
4 4 1 電子背散射衍射技術的硬體系統
4 4 2 菊池花樣產生的原理
4 4 3 電子背散射衍射花樣的標定
4 4 4 電子背散射衍射樣品的製備
4 4 5 電子背散射衍射技術的應用
思考題
參考文獻
第5章 掃描探針顯微術
5 1 掃描探針顯微鏡的構造和工作原理
5 1 1 掃描探針顯微鏡的工作原理
5 1 2 振動隔離系統
5 1 3 機械運動與掃描系統
5 1 4 信號採集、反饋控制與數據處理
5 1 5 環境控制系統
5 2 掃描隧道顯微鏡
5 2 1 掃描隧道顯微鏡原理
5 2 2 掃描隧道顯微鏡針尖
5 2 3 表面形貌成像的工作模式
5 2 4 表面局域態密度的測量
5 2 5 表面單原子操縱
5 2 6 掃描隧道顯微鏡的發展及局限
5 3 原子力顯微鏡
5 3 1 原子力顯微鏡基本原理
5 3 2 原子間力及其監測方法
5 3 3 表面形貌成像工作模式
5 3 4 探針類型與關鍵參數
5 3 5 原子力顯微鏡的常見假象
5 3 6 原子力顯微鏡的衍生功能
5 4 掃描靜電力、磁力顯微鏡
5 4 1 靜電力、磁力對探針的作用
5 4 2 EFM、MFM的成像模式
5 4 3 EFM、MFM的誤差與假象
5 4 4 EFM、MFM的應用
5 5 掃描開爾文探針顯微鏡
5 5 1 金屬的功函數與接觸電勢差
5 5 2 掃描開爾文探針顯微鏡的原理
5 5 3 測量結果的影響因素與校準方法
5 5 4 掃描開爾文探針顯微鏡的應用
5 6 其他掃描探針電學測試方法
5 6 1 壓電力顯微鏡
5 6 2 導電原子力顯微鏡
思考題
參考文獻
第6章 譜學表徵
6 1 譜學表徵和分析基礎
6 1 1 光譜及其表徵
6 1 2 光譜的主要分類
6 2 紫外-可見-近紅外吸收光譜
6 2 1 分光光度法測試吸收光譜的物理基礎
6 2 2 紫外-可見-近紅外分光光度計的基本結構
6 2 3 紫外-可見-近紅外分光光度法的應用
6 3 傅里葉變換紅外光譜
6 3 1 傅里葉變換紅外光譜技術基礎

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