圖說集成電路製造工藝 孫洪文 9787122432902 【台灣高等教育出版社】

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物品所在地:中國大陸
原出版社:化學工業
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書名:圖說集成電路製造工藝
ISBN:9787122432902
出版社:化學工業
著編譯者:孫洪文
頁數:271
所在地:中國大陸 *此為代購商品
書號:1544340
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內容簡介

晶元是用管殼封裝好的集成電路。現代生活中隨處可見的電子產品,都離不開各式各樣的晶元。那麼,功能強大的晶元到底是怎樣製造而成的?讓我們跟著本書一探究竟吧! 《圖說集成電路製造工藝》首先用輕鬆有趣的語言介紹了半導體行業的發展史;接著將整個晶元製造流程分為「加」「減」「乘」「除」四類,用圖說的形式,全面細緻地講解了氧化、化學氣相淀積、物理法沉積薄膜、擴散、離子注入、清洗硅片、刻蝕、化學機械拋光、離子注入退火、迴流、製備合金、光刻等核心工藝,同時對半導體材料、凈化間、化學試劑、氣體、半導體設備、掩膜版等必需條件也做了介紹。 《圖說集成電路製造工藝》一書內容全面,語言凝練,圖文並茂,是一本「硬核」科普書,非常適合集成電路行業人員、對集成電路及前沿科技感興趣的讀者閱讀,也可用作高等院校微電子、電子科學與技術等相關專業的教材及參考書。

目錄

第1篇 集成電路製備前的準備工作
第1章 點石成金的神奇行業
1 1 有趣的半導體產業歷史
1 1 1 電子管時代
1 1 2 晶體管時代
1 1 3 集成電路時代
1 2 半導體行業現狀
1 2 1 半導體行業概況
1 2 2 半導體設計業現狀
1 2 3 半導體製造業現狀
1 2 4 半導體封測行業現狀
1 2 5 中國大陸半導體產業現狀
1 3 晶元是怎樣煉成的?
第2章 電子產業的基石——硅
2 1 煉丹爐里生長硅
2 2 硅的「脾性」
2 3 半導體器件的基礎——PN結
2 4 雙極型晶體管
2 5 MOS管
2 6 應力工程-應變硅
2 7 鰭式場效應晶體管
第3章 晶元製造的戰略支援部隊
3 1 比手術室還乾淨的地方——凈化間
3 1 1 良率——半導體製造的生命線
3 1 2 沾污的類型與來源
3 1 3 凈化間的結構
3 2 半導體製造中的化學品
3 2 1 化學溶液
3 2 2 氣體
3 3 半導體設備
3 4 半導體測量
3 5 集成電路設計與製造的橋樑——掩膜版
第4章 集成電路工藝概述
4 1 Fab的分區
4 2 典型CMOS工藝流程
4 3 集成電路工藝里的「加」「減」「乘」「除」
第2篇 集成電路工藝中的「加法」
第5章 氧化
5 1 二氧化硅的結構與性質
5 1 1 二氧化硅的結構
5 1 2 二氧化硅的物理性質
5 1 3 二氧化硅的化學性質
5 2 氧化工藝
5 2 1 氧化生長機制
5 2 2 干氧氧化
5 2 3 水汽氧化
5 2 4 濕氧氧化
5 2 5 影響氧化速率的因素
5 3 二氧化硅的應用
5 3 1 器件保護與表面鈍化
5 3 2 器件隔離
5 3 3 柵氧電介質
5 3 4 摻雜阻擋
5 3 5 金屬層間介質層
5 3 6 氧化硅的其他應用
5 3 7 氧化硅的應用總結
5 4 氧化設備
5 4 1 ?式爐
5 4 2 立式爐
5 4 3 快速熱處理(RTP)設備
5 5 氧化質量檢查及故障排除
5 5 1 氧化質量檢查
5 5 2 氧化故障排除
第6章 化學氣相淀積
6 1 薄膜淀積概述
6 2 化學氣相淀積工藝
6 2 1 CVD工藝概述
6 2 2 CVD淀積系統
6 2 3 APCVD
6 2 4 LPCVD
6 2 5 PECVD
6 2 6 HDPCVD
6 2 7 CVD過程中的摻雜
6 3 介質及其性能
6 3 1 介電常數k
6 3 2 低k材料
6 3 3 超低k材料
6 3 4 高k材料
6 4 外延
6 4 1 外延概述
6 4 2 氣相外延 (VPE)
6 4 3 分子束外延(MBE)
6 4 4 金屬有機CVD(MOCVD)
6 5 CVD薄膜質量影響因素及故障排除
6 5 1 CVD薄膜質量影響因素
6 5 2 CVD故障檢查及排除
6 5 3 顆粒清除
第7章 物理法沉積薄膜
7 1 集成電路工藝中的金屬
7 1 1 鋁
7 1 2 鋁銅合金
7 1 3 銅
7 1 4 硅化物
7 1 5 金屬填充塞
7 1 6 阻擋層金屬
7 2 金屬淀積工藝
7 2 1 蒸發
7 2 2 濺射
7 2 3 金屬CVD
7 2 4 銅電鍍
7 3 旋塗
7 4 鋁互連工藝流程
7 5 銅互連工藝流程
7 5 1 單大馬士革工藝
7 5 2 雙大馬士革工藝
7 6 金屬薄膜的質量檢查及故障排除
第8章 擴散
8 1 擴散原理
8 2 擴散工藝步驟
8 3 擴散應用
第9章 離子注入
9 1 離子注入工藝
9 2 離子注入機
9 3 離子注入中的溝道效應
9 4 離子注入的應用
9 5 離子注入后的質量測量
9 6 離子注入中的安全問題
第3篇 集成電路工藝中的「減法」
第10章 清洗硅片
10 1 清洗目的
10 2 清洗硅片的標準流程
10 3 干法清洗工藝
10 4 硅片清洗設備
第11章 刻蝕
11 1 刻蝕概述
11 1 1 刻蝕原理
11 1 2 刻蝕分類
11 1 3 刻蝕參數
11 2 濕法刻蝕
11 3 干法刻蝕
11 3 1 干法刻蝕概述
11 3 2 二氧化硅的干法刻蝕
11 3 3 多晶硅的干法刻蝕
11 3 4 氮化硅的干法刻蝕
11 3 5 金屬的干法刻蝕
11 3 6 光刻膠的干法刻蝕
11 3 7 干法刻蝕終點檢測
11 4 刻蝕質量檢查
第12章 化學機械拋光
12 1 平坦化概述
12 2 傳統平坦化工藝
12 3 化學機械拋光
12 3 1 CMP機理
12 3 2 CMP優缺點
12 3 3 CMP主要參數
12 3 4 CMP設備組成
12 3 5 CMP終點檢測
12 3 6 CMP后清洗
12 4 CMP應用
第4篇 集成電路工藝中的「乘法」
第13章 離子注入退火
13 1 摻雜離子注入之後的退火
13 2 離子注入製備SOI時的退火
13 3 製備高k介質時的退火
13 4 退火方式
第14章 迴流
14 1 PSG迴流
14 2 BPSG迴流
第15章 製備合金
15 1 製備多晶硅金屬硅化物(polycide)
15 2 製備自對準金屬硅化物(salicide)
15 2 1 製備Ti硅化物
15 2 2 製備Co硅化物
15 2 3
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