微波和太赫茲波段複介電常數與複磁導率測量技術 楊闖 9787563572465 【台灣高等教育出版社】
圖書均為代購，正常情形下，訂後約兩周可抵台。
物品所在地：中國大陸
原出版社：北京郵電大學
物品所在地：中國大陸
原出版社：北京郵電大學
NT$369
商品編號:
供貨狀況:
尚有庫存
加入最愛
此商品 「 最高 」可以折抵紅利
0
點
(約等於 NT$0 )
商品介紹
| *完成訂單後正常情形下約兩周可抵台。 *本賣場提供之資訊僅供參考，以到貨標的為正確資訊。 印行年月：202406*若逾兩年請先於私訊洽詢存貨情況，謝謝。 台灣(台北市)在地出版社，每筆交易均開具統一發票，祝您中獎最高1000萬元。 書名：微波和太赫茲波段複介電常數與複磁導率測量技術 ISBN：9787563572465 出版社：北京郵電大學 著編譯者：楊闖 頁數：131 所在地：中國大陸 *此為代購商品 書號：1670900 可大量預訂，請先連絡。 內容簡介 本書面向微波和太赫茲波段移動通信、衛星通信與定位技術、雷達遙感、無損檢測等對材料復介電常數與復磁導率的需求，通過構建二埠傳輸線法測量的解析與人工神經網路反演模型，突破當前從二埠傳輸線法傳輸/反射、僅反射或僅傳輸測試S參數反演復介電常數與復磁導率的技術瓶頸，支持板材、薄膜、粉末/顆粒等物質形態下的測量，支持單層待測物、多層夾具內待測物的測量。本書所提復介電常數與復磁導率測量技術，對未來微波和太赫茲波段通信與感知系統設計具有重要的應用價值。 本書適合電子科學與技術、信息與通信工程等專業的高年級本科生和研究生使用，也可供相關專業的工程技術人員參考。目錄 第1章 緒論1 1 研究背景 1 2 研究現狀 1 2 1 T/R測試單層平板的提取方法與技術的研究現狀 1 2 2 T/R測試薄膜和粉末/顆粒的提取方法與技術的研究現狀 1 2 3 R-O和T-O測試單層平板的提取方法與技術的研究現狀 1 3 研究內容和創新 1 4 結構及內容安排 本章小結 第2章 二埠傳輸線測量理論與技術 2 1 傳輸線S參數 2 1 1 S參數矩陣 2 1 2 S參數與電磁場邊值的關係 2 2 二埠傳輸線測試及其S參數 2 2 1 T/R測試及其S參數 2 2 2 R-O測試及其S參數 2 2 3 T-O測試及其S參數 2 3 本徵電磁參數提取演算法 2 3 1 NRW解析提取演算法 2 3 2 非解析提取演算法原理 2 3 3 非解析提取演算法——牛頓-拉夫遜迭代 2 3 4 非解析提取演算法——非線性最小二乘擬合 2 3 5 非解析提取演算法——人工神經網路 本章小結 第3章 T/R測試單層材料的T-PTLM研究 3 1 一種測試位置相關的穩定復介電常數解析提取方法 3 1 1 基於電磁場分析的穩定復介電常數提取模型 3 1 2 實驗驗證及分析 3 1 3 模擬驗證及分析 3 2 一種與測試位置無關的穩定復介電常數組合提取方法 3 2 1 基於組合技術的穩定復介電常數提取模型 3 2 2 實驗驗證及分析 3 2 3 模擬驗證及分析 3 3 一種基於人工神經網路/非解析的穩定復介電常數組合提取方法 3 3 1 基於ANN的穩定復介電常數提取模型 3 3 2 實驗驗證及分析 本章小結 第4章 T/R測試多層材料的T-PTLM研究 4 1 襯底上薄膜本徵電磁參數優化提取方法 4 1 1 基於電磁場分析的本徵電磁參數解析提取優化模型 4 1 2 實驗驗證及分析 4 1 3 模擬驗證及分析 4 2 平板間粉末/顆粒本徵電磁參數優化提取方法 4 2 1 基於電磁場分析的復介電常數穩定提取模型 4 2 2 實驗驗證及分析 本章小結 第5章 R-O和T-O測試單層材料的T-PTLM研究 5 1 基於R-O測試的T-PTLM的解析提取優化方法 5 1 1 基於短路和匹配R-O測試的復介電常數解析提取優化模型 5 1 2 實驗驗證及分析 5 1 3 模擬驗證及分析 5 2 與MUT測試位置無關的基於R-O測試的T-PTLM 5 2 1 消除R-O測試位置對本徵電磁參數提取影響的ANN模型 5 2 2 實驗驗證及分析 5 2 3 模擬驗證及分析 5 3 太赫茲頻段基於T-O測試的T-PTLM的迭代提取優化方法 5 3 1 自由空間平板傳輸係數模型 5 3 2 基於傳輸係數幅值的介電常數估算模型 5 3 3 基於傳輸係數相位的介電常數估算模型 5 3 4 介電常數估算模型應用過程 5 3 5 模擬驗證及分析 本章小結 第6章 總結與展望 6 1 工作總結 6 2 未來工作的展望 參考文獻 詳細資料或其他書籍請至台灣高等教育出版社查詢，查後請於PChome商店街私訊告知ISBN或書號，我們即儘速上架。 |
