*完成訂單後正常情形下約兩周可抵台。 *本賣場提供之資訊僅供參考,以到貨標的為正確資訊。 印行年月:202406*若逾兩年請先於私訊洽詢存貨情況,謝謝。 台灣(台北市)在地出版社,每筆交易均開具統一發票,祝您中獎最高1000萬元。 書名:工業電子測試技術 ISBN:9787030786432 出版社:科學 著編譯者:呂輝 頁數:240 所在地:中國大陸 *此為代購商品 書號:1664242 可大量預訂,請先連絡。 內容簡介 本書首先介紹工業電子測試技術的基本概念,逐步導入工業電子測試中涉及的重要基本理論知識,然後分門別類介紹測試使用到的感測器、測試系統間的數據通信方式、測試介面、測試儀器、測試軟體及測試方法。 本書深度結合實際工業電子測試工程實踐,從相關理論基礎教學到工程技術實踐兩方面入手,讓學生在掌握工業電子測試基礎理論知識的同時,具備工業電子測試的必要基本技能和工程實踐能力,實現面向晶元產業專業人才的全要素培養。 本書適合作為高等學校集成電路設計與集成系統、微電子科學與工程、電子科學與技術等電子信息類相關專業教材,也可作為工業電子測試領域專業技術人員的參考資料。目錄 前言第1章 緒論 1 1 電子測試技術概述 1 1 1 電子測試技術簡介 1 1 2 電子測量的內容 1 1 3 電子測試儀器的分類 1 1 4 電子測試技術的優點 1 1 5 電子測試技術的應用現狀 1 1 6 電子測試技術發展與趨勢 1 2 電子測試方法及系統 1 2 1 電子測試方法分類 1 2 2 電子測試方法的選擇 1 2 3 自動化電子測試系統 1 3 實驗室認可標準 1 3 1 校準實驗室能力認可 1 3 2 中國計量認證:CMA國家計量認證 1 3 3 實驗室CNAs認可和CMA資質認證的區別 1 3 4 檢測報告標識:CNAS、CMA、CAL 參考文獻 第2章 電子測試技術基礎 2 1 數字信號和模擬信號的測量 2 1 1 數字信號的測量 2 1 2 模擬信號的測量 2 2 電子元器件的測試 2 2 1 電子元器件分類 2 2 2 電子元器件測試的特點 2 3 集成電路測試 2 3 1 數字集成電路概述 2 3 2 數字集成電路測試 2 4 測量誤差與數據處理 2 4 1 測量誤差的基礎知識 2 4 2 研究測量誤差的目的 2 4 3 測量誤差的表示方法 2 4 4 測量誤差的來源與分類 2 4 5 系統誤差分析 2 4 6 隨機誤差分析 2 4 7 測量結果的置信度 2 4 8 測量結果的表示和有效數字 參考文獻 第3章 感測器 3 1 概述 3 1 1 感測器的基本功能和分類 3 1 2 工業測量中的常用感測器 3 2 無源感測器 3 2 1 電阻應變式感測器 3 2 2 電容式感測器 3 2 3 電感式感測器 3 3 有源感測器 3 3 1 壓電式感測器 3 3 2 磁電式感測器 3 3 3 光電感測器 3 4 新型感測器 3 4 1 氣敏感測器 3 4 2 微型感測器 參考文獻 第4章 工業通信 4 1 典型通信模型 4 1 1 開放系統互連參考模型 4 1 2 TCP/IP協議簇 4 1 3 現場匯流排通信模型 4 2 工業基礎通信匯流排 4 2 1 RS-232匯流排 4 2 2 RS-422/485匯流排 4 2 3 I2C匯流排 4 2 4 TTL匯流排 4 3 板卡式通信匯流排 4 3 1 PXI和PXIe匯流排 4 3 2 VXI匯流排 4 3 3 PCI和PCIe匯流排 4 4 工業高級通信匯流排 4 4 1 GPIB匯流排 4 4 2 CAN匯流排 4 4 3 LXI匯流排 4 4 4 USB匯流排 4 4 5 工業乙太網 4 5 無線通信 4 5 1 藍牙技術 4 5 2 ZigBee技術 4 5 3 Wi Fi技術 4 5 4 LoRa技術 參考文獻 第5章 測試介面 5 1 探針 5 1 1 測試探針結構 5 1 2 探針台結構 5 2 連接器介面 5 2 1 連接器的選用 5 2 2 普通單雙排插針 5 2 3 普通單雙排插座 5 2 4 其他插針插座 5 2 5 線對板連接器 5 2 6 USB介面 5 2 7 其他類型連接器 5 3 通信線纜 5 3 1 雙絞線的分類及特點 5 3 2 同軸線的分類及特點 5 3 3 光纖的分類及特點 5 4 3D列印技術 5 4 1 3D列印技術介紹 5 4 2 3D列印流程 5 4 3 3D列印建模軟體 5 4 4 模型要求 參考文獻 第6章 電子測試儀器 6 1 測試信號輸出儀器 6 1 1 電源 6 1 2 信號發生器 6 2 專用測試儀器 6 2 1 邏輯分析儀 6 2 2 虛擬儀器 6 3 頻域測試儀器 6 3 1 頻譜分析儀 6 3 2 網路分析儀 6 4 時域測試儀器 6 4 1 數字萬用袁 6 4 2 示波器 參考文獻 第7章 測試應用軟體 7 1 虛擬儀器與LabVIEw 7 1 1 虛擬儀器簡介 7 1 2 LabvIEW簡介 7 1 3 LabvIEW安裝與使用 7 1 4 LabVIEW操作選板 7 1 5 創建VI 7 1 6 vI調試與錯誤分析 7 2 數據結構 7 2 1 布爾型 7 2 2 數值型 7 2 3 字元串 7 2 4 下拉列表與枚舉 7 2 5 數組 7 2 6 簇 7 2 7 列表框與表格 7 2 8 波形 7 3 基本程序結構 7 3 1 順序結構 7 3 2 條件結構 7 3 3 循環結構 7 3 4 事件結構 7 3 5 禁用結構 7 3 6 變數 7 4 常用函數 7 4 1 布爾函數 7 4 2 數值運算 7 4 3 比較函數 7 4 4 數組函數 7 4 5 簇函數 7 4 6 定時函數 7 4 7 對話框 7 4 8 文件處理函數 7 4 9 報表生成函數 7 5 數字波形處理 7 5 1 波形生成 7 5 2 波形調理 7 5 3 波形測量 7 5 4 波形存取 7 6 LabVIEW通信 7 6 1 串列通信 7 6 2 GPIB通信 7 6 3 網路通信 7 7 應用框架 7 7 1 事件型通用應用程序 7 7 2 枚舉型狀態機 7 7 3 隊列型狀態機 7 7 4 生成可執行文件 7 7 5 製作安裝包 參考文獻 第8章 可測性設計 8 1 可測性設計的意義 8 2 晶元的可測性設計 詳細資料或其他書籍請至台灣高等教育出版社查詢,查後請於PChome商店街私訊告知ISBN或書號,我們即儘速上架。 |