工業電子測試技術 呂輝 9787030786432 【台灣高等教育出版社】

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物品所在地:中國大陸
原出版社:科學
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書名:工業電子測試技術
ISBN:9787030786432
出版社:科學
著編譯者:呂輝
頁數:240
所在地:中國大陸 *此為代購商品
書號:1664242
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內容簡介

本書首先介紹工業電子測試技術的基本概念,逐步導入工業電子測試中涉及的重要基本理論知識,然後分門別類介紹測試使用到的感測器、測試系統間的數據通信方式、測試介面、測試儀器、測試軟體及測試方法。 本書深度結合實際工業電子測試工程實踐,從相關理論基礎教學到工程技術實踐兩方面入手,讓學生在掌握工業電子測試基礎理論知識的同時,具備工業電子測試的必要基本技能和工程實踐能力,實現面向晶元產業專業人才的全要素培養。 本書適合作為高等學校集成電路設計與集成系統、微電子科學與工程、電子科學與技術等電子信息類相關專業教材,也可作為工業電子測試領域專業技術人員的參考資料。

目錄

前言
第1章 緒論
1 1 電子測試技術概述
1 1 1 電子測試技術簡介
1 1 2 電子測量的內容
1 1 3 電子測試儀器的分類
1 1 4 電子測試技術的優點
1 1 5 電子測試技術的應用現狀
1 1 6 電子測試技術發展與趨勢
1 2 電子測試方法及系統
1 2 1 電子測試方法分類
1 2 2 電子測試方法的選擇
1 2 3 自動化電子測試系統
1 3 實驗室認可標準
1 3 1 校準實驗室能力認可
1 3 2 中國計量認證:CMA國家計量認證
1 3 3 實驗室CNAs認可和CMA資質認證的區別
1 3 4 檢測報告標識:CNAS、CMA、CAL
參考文獻
第2章 電子測試技術基礎
2 1 數字信號和模擬信號的測量
2 1 1 數字信號的測量
2 1 2 模擬信號的測量
2 2 電子元器件的測試
2 2 1 電子元器件分類
2 2 2 電子元器件測試的特點
2 3 集成電路測試
2 3 1 數字集成電路概述
2 3 2 數字集成電路測試
2 4 測量誤差與數據處理
2 4 1 測量誤差的基礎知識
2 4 2 研究測量誤差的目的
2 4 3 測量誤差的表示方法
2 4 4 測量誤差的來源與分類
2 4 5 系統誤差分析
2 4 6 隨機誤差分析
2 4 7 測量結果的置信度
2 4 8 測量結果的表示和有效數字
參考文獻
第3章 感測器
3 1 概述
3 1 1 感測器的基本功能和分類
3 1 2 工業測量中的常用感測器
3 2 無源感測器
3 2 1 電阻應變式感測器
3 2 2 電容式感測器
3 2 3 電感式感測器
3 3 有源感測器
3 3 1 壓電式感測器
3 3 2 磁電式感測器
3 3 3 光電感測器
3 4 新型感測器
3 4 1 氣敏感測器
3 4 2 微型感測器
參考文獻
第4章 工業通信
4 1 典型通信模型
4 1 1 開放系統互連參考模型
4 1 2 TCP/IP協議簇
4 1 3 現場匯流排通信模型
4 2 工業基礎通信匯流排
4 2 1 RS-232匯流排
4 2 2 RS-422/485匯流排
4 2 3 I2C匯流排
4 2 4 TTL匯流排
4 3 板卡式通信匯流排
4 3 1 PXI和PXIe匯流排
4 3 2 VXI匯流排
4 3 3 PCI和PCIe匯流排
4 4 工業高級通信匯流排
4 4 1 GPIB匯流排
4 4 2 CAN匯流排
4 4 3 LXI匯流排
4 4 4 USB匯流排
4 4 5 工業乙太網
4 5 無線通信
4 5 1 藍牙技術
4 5 2 ZigBee技術
4 5 3 Wi Fi技術
4 5 4 LoRa技術
參考文獻
第5章 測試介面
5 1 探針
5 1 1 測試探針結構
5 1 2 探針台結構
5 2 連接器介面
5 2 1 連接器的選用
5 2 2 普通單雙排插針
5 2 3 普通單雙排插座
5 2 4 其他插針插座
5 2 5 線對板連接器
5 2 6 USB介面
5 2 7 其他類型連接器
5 3 通信線纜
5 3 1 雙絞線的分類及特點
5 3 2 同軸線的分類及特點
5 3 3 光纖的分類及特點
5 4 3D列印技術
5 4 1 3D列印技術介紹
5 4 2 3D列印流程
5 4 3 3D列印建模軟體
5 4 4 模型要求
參考文獻
第6章 電子測試儀器
6 1 測試信號輸出儀器
6 1 1 電源
6 1 2 信號發生器
6 2 專用測試儀器
6 2 1 邏輯分析儀
6 2 2 虛擬儀器
6 3 頻域測試儀器
6 3 1 頻譜分析儀
6 3 2 網路分析儀
6 4 時域測試儀器
6 4 1 數字萬用袁
6 4 2 示波器
參考文獻
第7章 測試應用軟體
7 1 虛擬儀器與LabVIEw
7 1 1 虛擬儀器簡介
7 1 2 LabvIEW簡介
7 1 3 LabvIEW安裝與使用
7 1 4 LabVIEW操作選板
7 1 5 創建VI
7 1 6 vI調試與錯誤分析
7 2 數據結構
7 2 1 布爾型
7 2 2 數值型
7 2 3 字元串
7 2 4 下拉列表與枚舉
7 2 5 數組
7 2 6 簇
7 2 7 列表框與表格
7 2 8 波形
7 3 基本程序結構
7 3 1 順序結構
7 3 2 條件結構
7 3 3 循環結構
7 3 4 事件結構
7 3 5 禁用結構
7 3 6 變數
7 4 常用函數
7 4 1 布爾函數
7 4 2 數值運算
7 4 3 比較函數
7 4 4 數組函數
7 4 5 簇函數
7 4 6 定時函數
7 4 7 對話框
7 4 8 文件處理函數
7 4 9 報表生成函數
7 5 數字波形處理
7 5 1 波形生成
7 5 2 波形調理
7 5 3 波形測量
7 5 4 波形存取
7 6 LabVIEW通信
7 6 1 串列通信
7 6 2 GPIB通信
7 6 3 網路通信
7 7 應用框架
7 7 1 事件型通用應用程序
7 7 2 枚舉型狀態機
7 7 3 隊列型狀態機
7 7 4 生成可執行文件
7 7 5 製作安裝包
參考文獻
第8章 可測性設計
8 1 可測性設計的意義
8 2 晶元的可測性設計

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