電子學系統輻射效應與加固技術 許獻國 9787576705409 【台灣高等教育出版社】

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原出版社:哈爾濱工業大學
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書名:電子學系統輻射效應與加固技術
ISBN:9787576705409
出版社:哈爾濱工業大學
著編譯者:許獻國
叢書名:材料與器件輻射效應及加固技術研究著作
頁數:390
所在地:中國大陸 *此為代購商品
書號:1576770
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內容簡介

本書系統性地介紹輻射對電子學系統的損傷機制、研究方法和加固技術。第1∼3章介紹輻射環境、輻射與物質的相互作用,以及電子元器件的輻射效應;第4∼6章介紹多物理響應與多物理場作用、輻射效應的試驗與測試,以及輻射環境與輻射效應的計算與模擬;第7章和第8章介紹電子學系統抗輻射加固技術與抗輻射性能評估。附錄提供了常用的輻射效應數據以便查詢。 本書適合輻射效應與加固技術相關專業高年級本科生和研究生使用,也可供相關工程技術人員和科研人員參考。

目錄

第l章 輻射環境
1 1 概述
1 2 人為輻射環境
1 3 大氣輻射環境
1 4 空間輻射環境
1 5 其他輻射環境
1 6 本章小結
本章參考文獻
第2章 輻射與物質的相互作用
2 1 概述
2 2 荷電粒子與靶物質的相互作用
2 3 光子與物質的相互作用
2 4 中子與靶物質的相互作用
2 5 物質的電離損傷和位移損傷
2 6 本章小結
本章參考文獻
第3章 電子元器件的輻射效應
3 1 概述
3 2 材料的輻射效應
3 3 PN結和二極體、雙極晶體管的輻射效應
3 4 SiO2/Si界面和場效應晶體管的輻射效應
3 5 雙極工藝集成電路的輻射效應
3 6 CMOS集成電路的輻射效應
3 7 光電器件的輻射效應
3 8 其他元器件的輻射效應
3 9 本章小結
本章參考文獻
第4章 多物理響應與多物理場作用
4 1 概述
4 2 多物理響應
4 3 多物理場作用
4 4 本章小結
本章參考文獻
第5章 輻射效應的試驗與測試
5 1 概述
5 2 輻射模擬源
5 3 劑量測量
5 4 宏觀特性參數測量
5 5 微觀特性參數測量
5 6 試驗方法
5 7 本章小結
本章參考文獻
第6章 輻射環境與輻射效應的計算與模擬
6 1 概述
6 2 計算與模擬工具
6 3 輻射感生缺陷建模與模擬
6 4 器件建模與模擬
6 5 電路建模與模擬
6 6 本章小結
本章參考文獻
第7章 電子學系統抗輻射加固技術
7 1 概述
7 2 電子學系統
7 3 輻射環境指標分配
7 4 輻射屏蔽加固
7 5 元器件篩選和加固
7 6 電路硬體加固
7 7 系統程序加固
7 8 本章小結
本章參考文獻
第8章 抗輻射性能評估
8 1 概述
8 2 輻射效應試驗
8 3 輻射效應模擬
8 4 抗輻射性能評估
8 5 抗輻射加固保證
8 6 本章小結
本章參考文獻
附錄
附錄A 常用化學和物理參數
附錄B 材料、元器件的輻射效應數據
附錄C 離子與材料的相互作用數據
附錄D 光子與材料的相互作用數據
附錄E 電子與材料的相互作用數據
附錄F 中子與材料的相互作用數據
附錄G 電子與光子射程比數據
縮略語索引
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