X射線多晶衍射數據Rietveld精修及GSAS軟件入門 9787516040607 鄭振環 陳玉龍

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書名:X射線多晶衍射數據Rietveld精修及GSAS軟件入門
ISBN:9787516040607
出版社:中國建材工業
著編譯者:鄭振環 陳玉龍
頁數:134
所在地:中國大陸 *此為代購商品
書號:1648450
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內容簡介
Rietveld法全譜擬合已成為X射線多晶衍射修正晶體結構的重要方法。全書共為四章,側重從操作示例來介紹Rietveld法的原理和精修基本過程。第一章簡要介紹了Rietveld法結構精修的發展概況和基本原理。第二章主要介紹EXPGUI-GSAS軟體安裝和界面。第三章簡要介紹Rietveld法X射線多晶衍射數據的實驗技術,以簡單的例子演示EXPGUI-GSAS軟體Rietveld精修的基本過程、精修結果的提取以及圖譜的繪圖,並給出了空間群設定問題的解決、精修角度範圍設定和定製EX-PGUI等內容。第四章給出了五個提高練習示例,包括儀器參數文件的建立、含非晶混合物的定量分析、Le Bail法擬合及佔位修正、峰形參數計算晶粒尺寸和微觀應變以及批量精修等。
《X射線多晶衍射數據Rietveld精修及GSAS軟體入門》具有很強的實用性,可以作為材料、化學以及地質等領域使用Rietveld法進行結構精修的研究人員的入門參考書,也可以作為本科生、研究生教學的實驗教材。

目錄
1 Rietveld法結構精修
1 1 Rietveld法結構精修發展概況
1 2 Rietveld法基本原理
1 3 參數修正順序與結果判據
1 3 1 參數修正的順序
1 3 2 精修的數值判據
1 3 3 精修的圖示判斷
1 4 精修過程出現的問題和對策
1 5 Rietveld法結構精修的應用
1 5 1 修正晶體結構
1 5 2 相變研究和點陣常數測定
1 5 3 物相定量分析
1 5 4 晶粒尺寸和微應變測定
2 EXPGUI-GSAS軟體安裝與界面介紹
2 1 GSAS軟體簡介
2 2 EXPGUI-GSAS軟體的安裝
2 3 EXPGUI-GSAS軟體界面介紹
2 3 1 菜單欄
2 3 2 選項卡界面
2 3 3 EXPGUI幫助內容
3 EXPGUI-GSAS結構精修起步
3 1 精修前的準備工作
3 1 1 衍射數據的測定
3 1 2 衍射數據的轉換
3 1 3 初始結構的獲取
3 2 EXPGUI精修簡單示例
3 2 1 生成EXP文件
3 2 2 精修過程
3 2 3 常見問題
3 3 精修結果提取與繪圖
3 3 1 精修結果提取
3 3 2 精修圖譜繪圖
3 4 空間群設定問題及圖譜精修範圍設定
3 4 1 空間群設定問題及解決
3 4 2 設定精修角度範圍
3 5 定製EXPGUI
3 5 1 設定打開EXPGUI后默認文件夾位置
3 5 2 定製EXPGUI的快捷按鈕欄
4 EXPGUI-GSAS提高練習
4 1 儀器參數文件的建立
4 1 1 基本知識
4 1 2 操作過程
4 2 物相(含非晶)定量分析
4 2 1 基本原理
4 2 2 衍射數據測試
4 2 3 精修過程
4 3 Le Bail法擬合及佔位修正(約束的使用)
4 3 1 問題描述
4 3 2 精修過程
4 4 計算晶粒大小及微觀應變
4 4 1 基本原理
4 4 2 具體步驟
4 4 3 晶粒尺寸和微觀應變計算示例
4 5 利用已有EXP進行單個數據及批量精修
4 5 1 利用已有EXP進行單個數據精修
4 5 2 批量精修
參考文獻

前言/序言
X射線多晶衍射技術用於分析材料的相結構、相組成、晶粒大小、晶粒取向以及微結構等,是研究多晶材料結構與性能間關係的重要手段,廣泛應用於材料、化學、物理、地質、建築、航空航天以及醫藥等領域。但是X射線多晶衍射具有固有的缺點,衍射峰重疊嚴重,丟失了大量有用的結構信息。1967年荷蘭晶體學家Hugo M Rietveld提出利用計算機對中子多晶衍射數據進行全譜擬合的方法,克服了過去多晶衍射數據僅利用積分強度的不足,充分利用了衍射譜的所有信息,可以獲得多晶材料的結構信息。1977年,Rietveld法擴展到了X射線多晶衍射數據的分析。隨著計算機的發展和普遍應用,Rietveld法得到了完善和廣泛應用,目前已經成為X射線多晶衍射修正晶體結構的重要方法。
本書內容總共包含四章,側重從操作示例介紹Rietveld法的基本原理和精修過程。第1章簡要介紹Rietveld法結構精修的發展概況、基本原理、精修策略及主要應用。第2章主要介紹常用精修軟體EXPGUI-GSAS的安裝、使用界面以及各種參數的意義。第3章簡要介紹精修用X射線多晶衍射數據的測定要求以及實驗條件的選擇,並以簡單例子演示EXPGUI-GSAS軟體的操作過程、精修結果的提取以及精修圖譜的繪製。第4章給出三個提高練習示例,包括創建儀器參數文件、含非晶混合物的定量分析以及佔位修正等。
本書可以作為材料、化學以及地質等領域學習X射線多晶衍射數據Ri-etveld法結構精修和GSAS軟體的入門參考資料,也可以作為本科生、研究生的實驗教材。
本書第1章由李強教授編寫,第2∼4章由鄭振環編寫。書中一些具體數據和操作示例來源於一些已經發表的文獻,在此向原作者表示感謝。
由於作者的水平有限,書中難免存在錯誤和不足之處,誠懇地希望廣大讀者批評指正。


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