超晶格真隨機數產生技術 劉延飛 9787118133042 【台灣高等教育出版社】

圖書均為代購,正常情形下,訂後約兩周可抵台。
物品所在地:中國大陸
原出版社:國防工業
NT$509
商品編號:
供貨狀況: 尚有庫存

此商品參與的優惠活動

加入最愛
商品介紹
*完成訂單後正常情形下約兩周可抵台
*本賣場提供之資訊僅供參考,以到貨標的為正確資訊。
印行年月:202405*若逾兩年請先於私訊洽詢存貨情況,謝謝。
台灣(台北市)在地出版社,每筆交易均開具統一發票,祝您中獎最高1000萬元。
書名:超晶格真隨機數產生技術
ISBN:9787118133042
出版社:國防工業
著編譯者:劉延飛
頁數:141
所在地:中國大陸 *此為代購商品
書號:1645251
可大量預訂,請先連絡。

內容簡介

隨機數發生器被用來產生密碼或作為各類密碼設備的核心器件,具有十分廣泛的應用。本書首次利用半導體超晶格作為真隨機數發生器的混沌熵源,針對超晶格作為混沌熵源時所涉及的器件設計、混沌信號分析、隨機數提取等問題進行研究,從理論上對超晶格混沌產生自激振蕩的機理進行了研究,從實踐上實現了基於超晶格混沌熵源的隨機數發生器設計及產生真隨機數的評估。 本書適合高等學校、科研院所從事微電子、保密通信及交叉專業研究的研究生和科研人員參考閱讀。

目錄

第1章 概述
1 1 信息安全
1 1 1 密碼學與信息安全
1 1 2 密碼系統的安全性
1 2 偽隨機數與真隨機數
1 2 1 偽隨機數產生的研究現狀
1 2 2 真隨機數產生的研究現狀
1 3 超晶格密碼技術
1 4 混沌學分析方法
1 4 1 混沌信號降噪
1 4 2 混沌信號狀態空間重構技術
1 4 3 狀態空間結構特徵提取
1 5 混沌學在超晶格真隨機數發生器研究中的應用
第2章 超晶格理論基礎
2 1 弱耦合超晶格
2 2 弱耦合超晶格輸運的基本建模
2 3 弱耦合超晶格作為高速雜訊源的物理機理分析
2 4 弱耦合超晶格的數學建模
第3章 超晶格器件製備技術
3 1 材料生長、器件製備和測試
3 1 1 常溫自發混沌振蕩器件的材料設計
3 1 2 材料MOCVD生長
3 1 3 超晶格器件製備
3 2 器件性能測試
3 2 1 測試系統
3 2 2 測試結果
3 3 超晶格器件穩定性
3 3 1 超晶格溫度穩定性實驗測試
3 3 2 超晶格輸出信號分析
3 3 3 溫度對超晶格混沌振蕩的穩定性分析
第4章 切線空間平滑降噪演算法
4 1 超晶格測量信號中的雜訊來源分析
4 1 1 不同雜訊的影響
4 1 2 雜訊對超晶格混沌態分析的干擾
4 1 3 混沌降噪與基於頻域降噪演算法的不同
4 2 切線空間平滑映射降噪演算法
4 2 1 映射局部子空間
4 2 2 平滑正交分解
4 2 3 平滑子空間辨識及數據映射
4 2 4 數據填充及邊緣效應的消除
4 3 平滑降噪演算法
4 4 模擬實驗
4 4 1 相空間吸引子比較
4 4 2 雜訊強度分析
4 4 3 關聯維分析
4 4 4 對降噪前後最大李雅普諾夫指數的比較
4 4 5 吸引子預測誤差
4 5 基於切線空間平滑映射的超晶格輸出混沌信號降噪
第5章 直流偏置下超晶格輸出特性
5 1 超晶格簡化模型
5 2 超晶格基本參數對輸出信號混沌特性的影響
5 3 超晶格不動點附近狀態空間結構分析
5 3 1 方向李雅普諾夫指數
5 3 2 基於輸出狀態空間軌線的方向李雅普諾夫指數求解
5 3 3 基於方向李雅普諾夫指數的狀態空間結構分析
第6章 信號激勵下超晶格輸出特性研究
6 1 單頻及雜訊激勵下超晶格混沌特性
6 1 1 超晶格在信號激勵下的熱電子運動模型
6 1 2 超晶格器件在信號激勵下的多穩態表現
6 1 3 准周期及雜訊信號激勵下對超晶格輸出混沌信號的影響
6 2 混沌信號激勵下對超晶格輸出特性影響研究
6 2 1 超晶格系統在混沌信號激勵下的動力學模型
6 2 2 超晶格混沌源激勵模型
6 2 3 基於K-Y推論的適合激勵源設計
6 2 4 混沌源選擇與設計
6 2 5 基於輸出信號分析的超晶格李雅普諾夫指數的實驗測量
6 2 6 基於優化演算法的最優激勵
6 3 雜訊激勵的混沌誘導和混沌增強效應
6 3 1 信號激勵超晶格的研究
6 3 2 雜訊激勵的實驗方案設計
6 3 3 雜訊對超晶格混沌振蕩分析
第7章 真隨機數轉化電路設計實現
7 1 轉化電路方案設計
7 1 1 單路比較器採集方案
7 1 2 多位量化採集處理方案
7 1 3 數字移位差分處理方案
7 2 超晶格熵源轉化電路硬體設計實現
7 3 方案FPGA結構設計與實現
7 3 1 高速ADC採集時序設計
7 3 2 FIFO模塊及控制流程設計
7 3 3 數據存儲模塊時序設計
7 3 4 時鐘介面設計
第8章 隨機數測試
8 1 NIST隨機數測試
8 2 Diehard隨機數測試
參考文獻

詳細資料或其他書籍請至台灣高等教育出版社查詢,查後請於PChome商店街私訊告知ISBN或書號,我們即儘速上架。
規格說明
運送方式
已加入購物車
已更新購物車
網路異常,請重新整理