微束分析國家標準彙編.2023.中全國微束分析標準化技術委員會 9787502652517 【台灣高等教育出版社】

Name: 微束分析國家標準彙編.2023.中 全國微束分析標準化技術委員會 9787502652517 【台灣高等教育出版社】
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書名：微束分析國家標準彙編.2023.中
ISBN：9787502652517
出版社：中國計量
著編譯者：全國微束分析標準化技術委員會
頁數：625
所在地：中國大陸 *此為代購商品
書號：1630495
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內容簡介

本書內容涵蓋了電子探針、掃描電鏡、電子顯微鏡等主要微束分析儀器的校準規範，測試方法、數據處理等內容，為微束分析實驗室提供了權威的參考依據。本書不僅適合於各科研院所、大專院校從事微束分析技術研究和應用的專業人員參考查詢，也適合於各實驗室和檢驗檢測機構的從業人員，以及行業相關領域的教師、學生、工程師等閱讀參考。

一、微束分析能量色散x射線光譜學
GB/T 23413—2009 納米材料晶粒尺寸及微觀應變的測定X射線衍射線寬化法
GB/T 17359—2012 微束分析能譜法定量分析
二、微束分析電子背散射衍射
GB/T 19501—2013 微束分析電子背散射衍射分析方法通則
GB/T 30703—2014 微束分析電子背散射衍射取向分析方法導則
GB/T 34172—2017 微束分析電子背散射衍射金屬及合金的相分析方法
GB/T 38532—2020 微束分析電子背散射衍射平均晶粒尺寸的測定
GB/T 41076—2021 微束分析電子背散射衍射鋼中奧氏體的定量分析
三、表面化學分析一般程序
GB/T 28894—2012 表面化學分析分析前樣品的處理
GB/T 29556—2013 表面化學分析俄歇電子能譜和X射線光電子能譜橫向解析度、分析面積和分析器所能檢測到的樣品面積的測定
GB/T 30815—2014 表面化學分析分析樣品的製備和安裝方法指南
GB/T 32565—2016 表面化學分析俄歇電子能譜(AES)數據記錄與報告的規範要求
GB/T 33502—2017 表面化學分析 X射線光電子能譜(XPS)數據記錄與報告的規範要求
GB/T 34174—2017 表面化學分析工作參考物質中離子注入產生的駐留面劑量定值的推薦程序
四、表面化學分析數據管理與處理
GB/T 19499—2004 表面化學分析數據傳輸格式
GB/T 21007—2007 表面化學分析信息格式
GB/T 36052—2018 表面化學分析掃描探針顯微鏡數據傳輸格式
五、表面化學分析深度剖析
GB/T 20175—2006 表面化學分析濺射深度剖析用層狀膜係為參考物質的優化方法
GB/T 29557—2013 表面化學分析深度剖析濺射深度測量
GB/T 32999—2016 表面化學分析深度剖析用機械輪廓儀柵網復型法測量濺射速率
GB/T 34326—2017 表面化學分析深度剖析 AES和XPS深度剖析時離子束對準方法及其束流或束流密度測量方法
GB/T 41064—2021 表面化學分析深度剖析用單層和多層薄膜測定X射線光電子能譜、俄歇電子能譜和二次離子質譜中深度剖析濺射速率的方法
六、表面化學分析二次離子質譜
GB/T 20176—2006 表面化學分析二次離子質譜用均勻摻雜物質測定硅中硼的原子濃度
GB/T 22572—2008 表面化學分析二次離子質譜用多δ層參考物質評估深度分辨參數的方法
GB/T 25186—2010 表面化學分析二次離子質譜由離子注入參考物質確定相對靈敏度因子
GB/T 32495—2016 表面化學分析二次離子質譜硅中砷的深度剖析方法
GB/T 40129—2021 表面化學分析二次離子質譜飛行時間二次離子質譜儀質量標校準
GB/T 40109—2021 表面化學分析二次離子質譜硅中硼深度剖析方法
七、表面化學分析輝光放電光譜
GB/T 19502—2004 表面化學分析輝光放電發射光譜方法通則
GB/T 22462—2008 鋼表面納米、亞微米尺度薄膜元素深度分佈的定量測定輝光放電原子發射光譜法
GB/T 29559—2013 表面化學分析輝光放電原子發射光譜鋅和/或鋁基合金鍍層的分析
GB/T 32996—2016 表面化學分析輝光放電發射光譜法分析金屬氧化物膜
GB/T 33236—2016 多晶硅痕量元素化學分析輝光放電質譜法
GB/T 32997—2016 表面化學分析輝光放電發射光譜定量成分深度剖析的通用規程
(共計33項國家標準，按標準體系排序)
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