微束分析國家標準彙編.2023.下 全國微束分析標準化技術委員會 9787502652524 【台灣高等教育出版社】
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物品所在地：中國大陸
原出版社：中國計量
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| *完成訂單後正常情形下約兩周可抵台。 *本賣場提供之資訊僅供參考，以到貨標的為正確資訊。 印行年月：202402*若逾兩年請先於私訊洽詢存貨情況，謝謝。 台灣(台北市)在地出版社，每筆交易均開具統一發票，祝您中獎最高1000萬元。 書名：微束分析國家標準彙編.2023.下 ISBN：9787502652524 出版社：中國計量 著編譯者：全國微束分析標準化技術委員會 頁數：700 所在地：中國大陸 *此為代購商品 書號：1630496 可大量預訂，請先連絡。 內容簡介 本套書匯總了當前現行微束分析國家標準112項編輯成冊。本書為下冊，彙編內容包括：電子能譜、掃描探針顯微鏡、X射線反射和X射線熒光分析、表面化學分析-納米材料等相關國家標準。在一定程度上反映了我國近年來微束分析標準化事業發展的基本情況和主要成就。目錄 一、表面化學分析詞彙GB/T 22461-2008 表面化學分析 詞彙 二、表面化學分析電子能譜 GB/T 19500-2004 X射線光電子能譜分析方法通則 GB/T 21006-2007 表面化學分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強度標的線性 GB/T 25185-2010 表面化學分析 X射線光電子能譜 荷電控制和荷電校正方法的報告 GB/T 25184-2010 X射線光電子能譜儀檢定方法 GB/T 25187-2010 表面化學分析 俄歇電子能譜 選擇儀器性能參數的表述 GB/T 25188-2010 硅晶片表面超薄氧化硅層厚度的測量 X射線光電子能譜法 GB/T 26533-2011 俄歇電子能譜分析方法通則 GB/T 28893-2012 表面化學分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 測定峰強度的方法和報告結果所需的信息 GB/T 28633-2012 表面化學分析 X射線光電子能譜強度標的重複性和一致性 GB/T 28632-2012 表面化學分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜橫向解析度測定 GB/T 28892-2012 表面化學分析 X射線光電子能譜選擇儀器性能參數的表述 GB/T 29731-2013 表面化學分析 高分辨俄歇電子能譜儀元素和化學態分析用能量標校準 GB/T 29558-2013 表面化學分析 俄歇電子能譜 強度標的重複性和一致性 GB/T 30704-2014 表面化學分析 X射線光電子能譜 分析指南 GB/T 30702-2014 表面化學分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 實驗測定的相對靈敏度因子在均勻材料定量分析中的使用指南 GB/Z 32494-2016 表面化學分析 俄歇電子能譜 化學信息的解析 GB/Z 32490-2016 表面化學分析 X射線光電子能譜 確定本底的程序 GB/T 32998-2016 表面化學分析 俄歇電子能譜 荷電控制與校正方法報告的規範要求 GB/T 22571-2017 表面化學分析 X射線光電子能譜儀 能量標尺的校準 GB/T 35158-2017 俄歇電子能譜儀檢定方法 GB/T 36401-2018 表面化學分析 X射線光電子能譜 薄膜分析結果的報告 GB/T 36504-2018 印刷線路板表面污染物分析 俄歇電子能譜 GB/T 36533-2018 硅酸鹽中微顆粒鐵的化學態測定 俄歇電子能譜法 GB/T 29732-2021 表面化學分析 中等分辨俄歇電子能譜儀 元素分析用能量標校準 GB/T 41072-2021 表面化學分析 電子能譜 紫外光電子能譜分析指南 GB/T 41073-2021 表面化學分析 電子能譜 X射線光電子能譜峰擬合報告的基本要求 三、表面化學分析 掃描探針顯微鏡 GB/T 40128-2021 表面化學分析 原子力顯微術 二硫化鉬片層材料厚度測量方法 四、表面化學分析 X射線反射和X射線熒光分析 GB/T 30701-2014 表面化學分析 硅片工作標準樣品表面元素的化學收集方法和全反射X射線熒光譜法（TXRF）測定 GB/T 36053-2018 X射線反射法測量薄膜的厚度、密度和界面寬度 儀器要求、准直和定位、數據採集、數據分析和報告 GB/T 40110-2021 表面化學分析 全反射X射線熒光光譜法（TXRF）測定硅片表面元素污染 五、表面化學分析 納米材料表徵淺胡國學 GB/T 33498-2017 表面化學分析 納米結構材料表徵 （共計32項國家標準，按標準體系排序） 詳細資料或其他書籍請至台灣高等教育出版社查詢，查後請於PChome商店街私訊告知ISBN或書號，我們即儘速上架。 |
