片上系統測試設計與優化 (瑞典)埃里 克.拉森著 孫仁傑譯 9787030769183 【台灣高等教育出版社】
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物品所在地：中國大陸
原出版社：科學
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| *數量非實際在台庫存 *完成訂單後正常情形下約兩周可抵台。 *本賣場提供之資訊僅供參考，以到貨標的為實際資訊。 印行年月：202401*若逾兩年請先於私訊洽詢存貨情況，謝謝。 台灣(台北市)在地出版社，每筆交易均開具統一發票，祝您中獎最高1000萬元。 書名：片上系統測試設計與優化 ISBN：9787030769183 出版社：科學 著編譯者：(瑞典)埃里 克.拉森著 孫仁傑譯 頁數：328 所在地：中國大陸 *此為代購商品 書號：1595201 可大量預訂，請先連絡。 內容簡介 本書旨在討論片上系統（SoC）測試的相關問題，包括建模以及片上系統測試解決方案的設計和優化。需要測試的系統越來越複雜，測試數據量不斷增加，如何組織測試，即測試調度變得越來越重要。本書主要站在系統級的角度明模塊化SoC測試領域的諸多問題。 本書由三部分組成，在概述經典測試方法的基礎上，介紹測試大型、模塊化和異構SoC面臨的挑戰和困難，並詳細介紹作者團隊為克服上述困難所做的研究工作。 本書可供電子科學與技術、微電子工程、計算機工程與技術等專業師生閱讀，也可作為軟體測試領域從業者的參考用書。目錄 第1部分 經典測試方法第1章 緒論 第2章 設計流程 2 1 引言 2 2 高層級設計 2 3 基於內核的設計 2 4 時鐘 2 5 優化技術 第3章 可測性設計 3 1 引言 3 2 可測性設計方法 3 3 混合信號測試 第4章 邊界掃描 4 1 引言 4 2 邊界掃描標準 4 3 模擬測試匯流排 第2部分 SoC的可測性設計 第5章 系統建模 5 1 引言 5 2 內核建模 5 3 源端測試建模 5 4 內核封裝器 5 5 測試訪問機制 第6章 測試衝突 6 1 引言 6 2 測試儀器的局限性 6 3 測試衝突 6 4 討論 第7章 測試功耗 7 1 引言 7 2 功耗 7 3 系統級功耗建模 7 4 功耗網的熱點建模 7 5 內核級功耗建模 7 6 討論 第8章 測試訪問機制 8 1 引言 8 2 測試訪問機制設計 8 3 測試時間分析 第9章 測試調度 9 1 引言 9 2 固定測試時間的測試調度 9 3 不固定（可變）測試時間的測試調度 9 4 最佳測試時間 9 5 集成測試調度和TAM設計 9 6 測試設計流程中的集成內核選擇 9 7 進一步研究 第3部分 SoC測試應用 第10章 可重構的功耗敏感性內核封裝器 10 1 引言 10 2 背景和相關工作 10 3 可重構的功耗敏感型內核封裝器 10 4 最佳測試調度 10 5 實驗結果 10 6 結論 第11章 用於設計和優化SoC測試解決方案的綜合框架 11 1 引言 11 2 背景和相關工作 11 3 系統建模 11 4 SoC測試相關問題 11 5 啟髮式演算法 11 6 模擬退火演算法 11 7 實驗結果 11 8 結論 第12章 基於內核設計的高效測試解決方案 12 1 引言 12 2 背景和相關工作 12 3 測試問題 12 4 我們的方法 12 5 實驗結果 12 6 結論 第13章 片上系統測試設計流程中的內核選擇 13 1 引言 13 2 背景 13 3 相關工作 13 4 問題構建 13 5 測試問題及其建模 13 6 測試設計演算法 13 7 實驗結果 13 8 結論 第14章 缺陷檢測與測試調度 14 1 引言 14 2 相關工作 14 3 順序測試調度 14 4 并行測試調度 14 5 測試調度演算法 14 6 實驗結果 14 7 結論 第15章 ATE內存約束下的測試向量選擇和測試調度集成 15 1 引言 15 2 相關工作 15 3 問題構建 15 4 測試質量指標 15 5 測試調度和測試向量選擇 15 6 實驗結果 15 7 結論 附錄 設計基準 附 1 引言 附 2 輸入文件的格式 附 3 Kime設計 附 4 Muresan 10設計 附 5 Muresan 20設計 附 6 ASIC Z 附 7 擴展ASIC Z 附 8 System L 附 9 Ericsson（愛立信）設計 附 10 System S 參考文獻 詳細資料或其他書籍請至台灣高等教育出版社查詢，查後請於PChome商店街私訊告知ISBN或書號，我們即儘速上架。 |
