芯片安全導論 董晨 劉西蒙 郭文忠 9787115617767 【台灣高等教育出版社】

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書名:芯片安全導論
ISBN:9787115617767
出版社:人民郵電
著編譯者:董晨 劉西蒙 郭文忠
頁數:268
所在地:中國大陸 *此為代購商品
書號:1616408
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內容簡介 本書系統地介紹了網路物理系統中常見芯片(晶元)所面臨的安全威脅,涵蓋集成電路、生物晶元、人工智慧晶元等常見晶元架構,並從安全形度出發介紹了已有的安全防範技術,包括知識產權保護、硬體木馬預防及檢測等。硬體是網路物理系統的基礎,晶元是其核心部件,晶元安全對整個網路空間安全來說至關重要。本書內容全面、技術新穎,不僅包括作者原創科研成果,還囊括其他學者的前沿研究成果。本書在晶元基本知識的基礎上,就現今較先進的研究成果進行歸納總結,對晶元安全領域的學習及研究有重要的啟發意義。 本書的讀者對象主要是網路空間安全、計算機科學、人工智慧、微電子等信息類相關專業的高年級本科生及研究生。本書可以作為高等院校相關專業的教學參考書,也可以作為晶元及安全類興趣愛好者及研究人員的閱讀用書。

目錄 第1章 集成電路基礎
1 1 集成電路製作過程
1 1 1 集成電路設計
1 1 2 集成電路製造
1 1 3 集成電路封測
1 2 集成電路類型
1 2 1 現場可編程門陣列
1 2 2 專用集成電路
1 2 3 片上系統
1 2 4 片上網路
1 2 5 射頻集成電路
1 3 集成電路工作環境
1 3 1 高溫環境
1 3 2 低溫環境
1 3 3 海洋環境
1 3 4 太空環境
參考文獻
第2章 集成電路安全風險
2 1 集成電路中的硬體木馬
2 1 1 集成電路硬體木馬簡介
2 1 2 集成電路硬體木馬結構
2 2 硬體木馬檢測技術
2 2 1 側通道分析
2 2 2 邏輯檢測
2 2 3 靜態檢測
2 2 4 逆向工程
參考文獻
第3章 集成電路知識產權保護
3 1 知識產權核
3 1 1 知識產權核結構
3 1 2 知識產權核分類
3 1 3 知識產權核的應用
3 2 基於物理結構的保護
3 2 1 物理不可克隆函數
3 2 2 空白填充
3 2 3 電路偽裝
3 2 4 分割生產
3 3 基於邏輯功能的保護法
參考文獻
第4章 集成電路可靠性問題
4 1 設計環節上的可靠性問題
4 1 1 靜電放電
4 1 2 集成電路互連引線電遷移
4 1 3 電磁輻射干擾
4 2 製造環節上的可靠性問題
4 2 1 製造工藝引起的可靠性問題
4 2 2 製造環境引起的可靠性問題
4 2 3 製造污染引起的可靠性問題
4 3 封裝環節的可靠性問題
4 3 1 封裝缺陷問題
4 3 2 封裝失效問題
4 4 測試環節的可靠性問題
4 4 1 可測性設計內容
4 4 2 可測性設計優缺點
4 5 使用壽命引起的可靠性問題
4 5 1 負偏壓溫度不穩定性問題
4 5 2 熱載流子注入問題
參考文獻
第5章 生物晶元基礎
5 1 生物晶元的結構
5 1 1 數字微流控生物晶元
5 1 2 微電極點陣列
5 1 3 連續微流控生物晶元
5 1 4 完全可編程閥陣列
5 2 生物晶元製作過程
5 2 1 DMFB設計流程
5 2 2 MEDA合成流程
5 2 3 CMFB合成流程
5 2 4 FPVA設計流程
5 3 生物晶元工作原理
5 3 1 介質電潤濕
5 3 2 基於CMFB的控制原理
5 4 生物晶元的應用
5 4 1 生化檢測
5 4 2 免疫學檢測
5 4 3 分子檢測
5 4 4 其他檢測方法
參考文獻
第6章 生物晶元安全風險
6 1 攻擊手段
6 1 1 影子攻擊
6 1 2 篡改樣品濃度攻擊與篡改校準曲線攻擊
6 1 3 參數攻擊與污染攻擊
6 1 4 轉置攻擊、隧道攻擊和老化攻擊
6 1 5 逆向工程攻擊與硬體木馬攻擊
6 2 威脅效果
6 2 1 拒絕服務
6 2 2 功能篡改
6 2 3 試劑污染
6 2 4 設計盜版
6 2 5 讀數偽造
6 2 6 信息泄露
6 2 7 惡意老化
參考文獻
第7章 生物晶元安全技術
7 1 隨機檢測點技術
7 1 1 均勻概率採樣
7 1 2 偏移概率函數
7 1 3 靜態放置
7 1 4 靜態檢測點的時間隨機化
7 1 5 局部化檢測方法
7 2 知識產權保護技術
7 2 1 偽裝技術
7 2 2 混淆
7 2 3 基於微流體的多路選擇器
7 2 4 新的物理不可克隆函數
7 2 5 全面的安全系統
7 2 6 鎖定生化協議
7 2 7 水印技術
7 2 8 MEDA的保護技術
7 3 未來研究的趨勢與挑戰
7 3 1 新材料
7 3 2 新架構
7 3 3 新環境
參考文獻
第8章 生物晶元可靠性問題
8 1 設計與製造缺陷
8 1 1 DMFB的典型缺陷
8 1 2 CMFB的典型缺陷
8 1 3 MEDA的典型缺陷
8 1 4 FPVA的典型缺陷
8 2 故障恢復
8 2 1 DMFB的故障恢復
8 2 2 CMFB的故障恢復
8 2 3 MEDA的故障恢復
8 2 4 FPVA的故障恢復
8 3 錯誤恢復
8 3 1 DMFB的錯誤恢復
8 3 2 CMFB的錯誤恢復
8 3 3 MEDA的錯誤恢復
8 3 4 FPVA的錯誤恢復
參考文獻
第9章 人工智慧晶元基礎
9 1 人工智慧晶元結構
9 1 1 基於GPU結構
9 1 2 基於FPGA結構
9 1 3 基於ASIC結構
9 1 4 基於神經擬態結構
9 2 人工智慧晶元的製作過程
9 2 1 設計階段
9 2 2 製造階段
9 2 3 測試階段
9 3 人工智慧晶元的工作環境
參考文獻
第10章 人工智慧晶元安全風險
10 1 人工智慧晶元硬體木馬介紹
10 2 人工智慧晶元硬體木馬結構
10 2 1 基於非易失性存儲器的硬體木馬
10 2 2 基於RRAM的神經形態系統的硬體木馬
10 2 3 基於傳統存儲器的硬體木馬
參考文獻
第11章 人工智慧晶元硬體木馬檢測技術
11 1 基於非易失性存儲器的硬體木馬檢測技術
11 2 神經形態硬體木馬檢測技術
11 3 神經網路木馬檢測技術
參考文獻
第12章 人工智慧晶元知識
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