內容簡介
本書主要講述壓電薄膜體聲波諧振器(Film Bulk Acoustic Resonators,FBAR)的工作原理,推導FBAR的電學阻抗表達式,由此構建其Mason模型,對其底電極、頂電極、壓電層的結構參數,以及有效諧振面積對器件諧振頻率的影響進行模擬模擬與驗證,並針對FBAR的溫度漂移提出有效的溫度補償措施;其次介紹FBAR的二維與三維建模過程,利用有限元分析法研究FBAR的電極形狀、面積及器件結構對諧振模態的影響,並從有限元分析中提取相關損耗參數,修正和提高Mason電學模型的精度;最後分析FBAR濾波器的工作原理,從濾波器的級聯方式、串並聯FBAR的有效諧振面積比、濾波器的級聯階數等方面進行研究,給出FBAR濾波器優化設計過程。 本書可以作為從事FBAR器件研究與設計,特別是FBAR濾波器設計人員、微電子工程技術人員的參考用書,也可以作為相關專業研究生的參考用書。作者簡介
吳秀山,1974年出生,男,山東萊蕪人,博士,副教授,碩士生導師,一直從事測試計量技術、集成電路設計與MEMS器件方面的科研與教學工作,現為浙江水利水電學院電氣工程學院副院長。 曾先後主持浙江省自然科學基金項目3項、浙江省「重中之重」開放式基金項目2項、省重點實驗室開放項目1項、廳級項目2項、企業項目多項;主持完成省教育廳課堂教學改革項目2項;作為第二負責人參與國家自然科學基金與省基金項目各4項。 近年來在國內外學術期刊和會議上發表SCI與EI收錄論文30餘篇;授權發明專利9項、實用新型1項和軟體著作權16項。目錄
第1章 緒論