航天集成電路測試技術 蔣順成 王勇 9787515921860 【台灣高等教育出版社】

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書名:航天集成電路測試技術
ISBN:9787515921860
出版社:中國宇航
著編譯者:蔣順成 王勇
頁數:354
所在地:中國大陸 *此為代購商品
書號:1731842
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內容簡介

本書由中國航天電子技術研究院組織編寫,首先從宏觀層面闡述了集成電路測試的基礎分類和發展現狀,進而深入分析了在技術推動、需求牽引雙輪驅動下集成電路測試的發展,再從微觀層面將航天集成電路測試方法分門別類,結合大量寶貴實例,對其進行了全面闡述。本書旨在系統固化多年來航天集成電路測試的技術經驗與成果,推動其規範發展,提升測試人員實操水平與工作效率,完善航天集成電路人才培育體系。

目錄

第1章 集成電路測試概論
1 1 概述
1 2 基礎分類
1 3 發展現狀
第2章 集成電路測試技術
2 1 概述
2 1 1 基礎術語
2 1 2 測試系統
2 1 3 精密測量單元
2 1 4 引腳電路
2 1 5 測試開發基本規則
2 2 功能測試
2 2 1 測試向量轉換和測試向量
2 2 2 測試周期和輸入信號
2 2 3 輸出信號
2 3 基本參數測試
2 3 1 直流參數測試
2 3 2 交流參數測試
2 4 集成電路測試故障模型
2 4 1 故障模型的概念
2 4 2 常規故障模型
2 5 可測性設計
第3章 航天集成電路測試需求
3 1 概述
3 2 集成電路單粒子效應測試
3 2 1 單粒子效應測試概述
3 2 2 單粒子測試考核指標
3 2 3 單粒子測試系統
3 2 4 單粒子測試標準規範
3 2 5 單粒子測試關鍵因素
3 3 集成電路總劑量效應測試
3 3 1 總劑量測試概述
3 3 2 總劑量測試考核指標
3 3 3 總劑量測試系統
3 3 4 總劑量測試標準規範
3 3 5 總劑量測試關鍵因素
3 4 靜電放電測試
3 4 1 損傷類型
3 4 2 ESD測試
3 4 3 實踐中靜電防護及管理措施
3 5 閂鎖試驗測試
3 5 1 閂鎖效應產生原理
3 5 2 閂鎖測試分析
3 5 3 CMOS電路中抗閂鎖的方法
3 6 極限試驗測試
3 6 1 航天集成電路極限試驗測試概念
3 6 2 航天集成電路極限試驗測試理論
3 6 3 集成電路極限試驗測試方法及分析流程
3 7 數據分析
3 7 1 常見的數據工具
3 7 2 統計分析
3 7 3 統計過程式控制制
第4章 集成電路測試方法及實例
4 1 概述
4 2 數字電路(CMOS電路)
4 2 1 CC4000
4 2 2 54AC
4 3 模擬電路
4 3 1 運算放大器
4 3 2 電壓調整器
4 3 3 模擬開關
4 3 4 時基電路
4 3 5 脈寬調製電路
4 3 6 正交調製/解調電路
4 3 7 鎖相環
4 3 8 二維AMR磁敏感測器晶元
4 3 9 測試實例
4 4 存儲器與微型計算機
4 4 1 存儲器
4 4 2 微處理器
4 4 3 微控制器
4 4 4 可編程邏輯器件(FPGA)
4 5 介面集成電路
4 5 1 模數(A/D)轉換器
4 5 2 數模(D/A)轉換器
4 5 3 低電壓差分信號電路
第5章 混合集成電路測試方法及實例
5 1 概述
5 2 DC/DC變換器
5 2 1 產品概述
5 2 2 測試指標體系
5 2 3 測試實例
5 3 功率放大器
5 3 1 產品概述
5 3 2 測試指標體系
5 3 3 測試實例
5 4 混合EMI濾波器
5 4 1 產品概述
5 4 2 測試指標體系
5 4 3 測試實例
5 5 微波混合集成電路
5 5 1 產品概述
5 5 2 測試指標體系
5 5 3 測試實例
5 6 微系統電路
5 6 1 產品概述
5 6 2 測試指標體系
5 6 3 流程和方法
5 6 4 測試實例
第6章 集成電路自動測試系統
6 1 通用數字集成電路測試系統
6 1 1 功能測試
6 1 2 數字電平
6 1 3 圖形速率
6 1 4 波形格式
6 1 5 直流參數和交流參數
6 2 模擬/混合集成電路測試系統
6 2 1 模擬/混合集成電路測試系統概述
6 2 2 測試系統常用硬體模塊
參考文獻
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