內容簡介
本書提供了在各個工藝及系統層次的半導體存儲器現狀的全面概述。在介紹了市場趨勢和存儲應用之後,本書重點介紹了各種主流技術,詳述了它們的現狀、挑戰和機遇,並特別關注了可微縮途徑。這些述及的技術包括靜態隨機存取存儲器(SRAM)、動態隨機存取存儲器(DRAM)、非易失性存儲器(NVM)和NAND快閃記憶體。本書還提及了嵌入式存儲器以及儲存類內存(SCM)的各項必備條件和系統級需求。每一章都涵蓋了物理運行機制、製造技術和可微縮性的主要挑戰因素。最後,本書回顧了SCM的新興趨勢,主要關注基於相變的存儲技術的優勢和機遇。 本書可作為高等院校微電子學與固體電子學、電子科學與技術、集成電路科學與工程等專業的高年級本科生和研究生的教材和參考書,也可供半導體和微電子領域的從業人員參考。作者簡介
法比奧·佩利澤(Fabio Pellizzer)於1996年在義大利帕多瓦大學獲得電子工程碩士學位,畢業論文課題是薄柵氧化物的表徵和可靠性。自2001年以來,他一直負責基於硫族化合物材料的相變存儲器的工藝開發。他在國際期刊和書籍上發表了70多篇論文,並多次受邀在國際會議上發表演講。他擁有200多項相變存儲器和硫族化合物材料方面的美國和歐洲授權專利(涉及工藝集成、算法和設計解決方案)。目錄
譯者序