內容簡介
本書系統地介紹作者獨創的短波長特徵X射線衍射基本原理和無損檢測晶體內部衍射信息等主要應用,除緒論外,主要包括三部分,共11章。在第一部分(共2章)X射線衍射基礎中,概述X射線物理學基礎、晶體的X射線衍射基礎等;在第二部分(共3章)短波長特徵X射線衍射基礎、儀器及實驗技術中,詳述短波長特徵X射線衍射原理、織構/取向材料的極密度極大值法等實驗分析方法,並簡介SWXRD-1000型短波長X射線衍射儀;在第三部分(共6章)晶體材料/工件內部的短波長特徵X射線衍射分析應用中,詳述無損檢測分析單晶/多晶材料工件內部殘餘應力、織構/取向、物相等的工程應用實例。本書的結束語總結了幾種現有晶體衍射技術的特點,並分析目前短波長特徵X射線衍射存在的不足,指出今後的發展方向。目錄
序