數字集成電路測試及可測性設計 張曉旭 張永鋒 山丹 9787122465535 【台灣高等教育出版社】

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書名：數字集成電路測試及可測性設計
ISBN：9787122465535
出版社：化學工業
著編譯者：張曉旭 張永鋒 山丹
叢書名：「集成電路設計與集成系統」叢書
頁數：190
所在地：中國大陸 *此為代購商品
書號：1722371
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內容簡介

本書從數字集成電路測試與可測性設計的基本概念出發，系統介紹了數字集成電路測試的概念、原理及方法。主要內容包括：數字集成電路測試基礎、測試向量生成、可測性設計與掃描測試、邊界掃描測試、內建自測試、存儲器測試，以及可測性設計案例及分析。 本書將理論與實踐相融合，深入淺出地進行理論講解，並輔以實例解析，幫助讀者從入門級別的理解到信手拈來的精通，實現從理論知識到工程應用的有效過渡。 本書可作為高等院校集成電路設計與集成系統等專業的教材，也可供集成電路及相關行業的工程技術人員參考。

目錄

第1章 緒論
1 1 電路測試的意義
1 2 電路測試的分類及基本方法
1 2 1 電路測試分類
1 2 2 電路測試基本方法
1 3 自動測試設備
習題
第2章 數字集成電路測試基礎
2 1 缺陷、錯誤和故障
2 1 1 缺陷、錯誤
2 1 2 故障
2 1 3 常用故障模型
2 1 4 單固定故障
2 2 單固定故障精簡
2 2 1 故障等效
2 2 2 故障支配
2 2 3 最小故障集精簡
2 2 4 測試向量生成舉例
2 3 多固定故障
2 4 故障淹沒
習題
第3章 測試向量生成
3 1 自動測試向量生成
3 1 1 布爾差分法
3 1 2 路徑敏化法
3 2 隨機測試向量生成
3 2 1 純隨機測試向量生成
3 2 2 偽隨機測試向量生成
3 3 模擬
3 3 1 驗證、模擬與模擬
3 3 2 邏輯模擬
3 3 3 故障模擬
3 4 實例
3 4 1 自動測試向量生成EDA工具
3 4 2 自動測試向量生成實例
3 4 3 邏輯模擬與故障模擬實例
3 4 4 偽隨機測試向量生成電路實例
3 4 5 TetraMAX工具腳本
習題
第4章 可測性設計與掃描測試
4 1 可測性設計分析
4 1 1 可測性分析
4 1 2 電路測試問題
4 2 掃描測試設計
4 3 全掃描設計
4 3 1 掃描路徑測試
4 3 2 掃描測試計算
4 3 3 掃描測試舉例
4 4 基於EDA工具的掃描設計
4 5 實例
4 5 1 掃描鏈插入EDA工具
4 5 2 掃描鏈插入實例
4 5 3 DFT Compiler工具腳本
習題
第5章 邊界掃描測試
5 1 邊界掃描基礎
5 2 邊界掃描結構
5 2 1 測試訪問埠
5 2 2 數據寄存器
5 2 3 指令寄存器
5 2 4 指令
5 2 5 TAP控制器及操作
5 2 6 邊界掃描鏈結構
5 3 邊界掃描描述語言
5 4 實例
5 4 1 TAP控制器的硬體描述
5 4 2 累加器的邊界掃描描述
習題
第6章 內建自測試
6 1 內建自測試概念
6 1 1 內建自測試類型
6 1 2 內建自測試向量生成
6 2 響應數據分析
6 2 1 數「1」法
6 2 2 跳變計數法
6 2 3 奇偶校驗法
6 2 4 簽名分析法
6 3 內建自測試結構
6 3 1 按時鐘測試BIST系統
6 3 2 按掃描測試BIST系統
6 3 3 循環BIST系統
6 3 4 內建邏輯塊觀察器
6 3 5 隨機測試塊
6 4 實例
6 4 1 內建自測試電路設計
6 4 2 多輸入簽名分析電路設計
習題
第7章 存儲器測試
7 1 存儲器結構
7 2 存儲器故障模型
7 3 存儲器測試算法
7 3 1 MSCAN測試算法
7 3 2 GALPAT測試算法
7 3 3 其他測試算法
7 4 存儲器測試方法
7 4 1 存儲器直接存取測試
7 4 2 存儲器內建自測試
7 4 3 宏測試
7 5 存儲器修復
7 6 實例
習題
參考文獻

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