內容簡介
薄膜材料在集成電路行業中得到廣泛應用,隨著晶元節點邁入亞十納米和亞納米級,薄膜材料的可靠性越來越受到關注。本書以《電子薄膜科學》為基礎,並基於作者在加州大學洛杉磯分校開設的研究生課程,重點介紹可靠性科學和薄膜加工。前幾章討論了薄膜工藝和可靠性的基本主題,包括沉積、表面能和原子擴散,然後系統地解釋了互連和封裝技術中的不可逆過程。本書描述了電遷移、熱遷移和應力遷移,最後一章專門介紹了失效分析。通過閱讀本書,讀者將對電子薄膜可靠性有完整的理論和實踐理解。本書數學簡單、理論清晰、娓娓道來,並配有晶元產業的實例,非常適合本科生、研究生、研究人員和晶元從業人員閱讀和參考。作者簡介
杜經寧博士是享譽全球的薄膜材料科學家,目前擔任香港城市大學材料學與電子工程講席教授。自1968年在哈佛大學獲得博士學位后,先後作為高級主管任職於國際商用機器公司沃特森研究中心,作為教授和系主任任職於美國加州大學洛杉磯分校材料科學與工程系,作為台積電講席教授任職于台灣交通大學等。杜教授是美國物理學會會士、美國金屬學會會士、美國材料學會會士、劍橋大學教堂山學院海外會士等。從集成電路誕生起,杜教授一直致力於薄膜材料在微電子器件、封裝和可靠性領域的研究,半個世紀以來筆耕不輟,發表論文500餘篇,引用超過2 8萬次,為領域發展做出傑出貢獻,是領域公認的薄膜材料世界級專家,至今年過八旬,仍然在科研一線激情滿懷地解決集成電路封裝可靠性與失效問題。目錄
第1章 微電子技術中的薄膜應用