SoC設計高級教程-技術實現 張慶 9787121492501 【台灣高等教育出版社】

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物品所在地:中國大陸
原出版社:電子工業
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商品編號: 9787121492501
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書名:SoC設計高級教程-技術實現
ISBN:9787121492501
出版社:電子工業
著編譯者:張慶
頁數:386
所在地:中國大陸 *此為代購商品
書號:1700314
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內容簡介

本書是編著者結合多年的工程實踐、培訓經驗及積累的資料,並借鑒國內外經典教材、文獻和專業網站的文檔等編著而成的。 本書全面介紹了SoC的重要設計和技術實現。本書首先介紹了SoC的電源、時鐘和複位管理,接著介紹了SoC的低功耗設計方法、時序分析與簽核、驗證、可測性設計,最後介紹了虛擬化設計和安全設計。本書特別注重介紹近年來出現的一些SoC設計新概念、新技術、新領域和新方法。 本書可供從事SoC設計的專業工程師和從事晶元規劃和項目管理的專業人員使用,也可供集成電路設計和電子等相關專業的師生使用。

目錄

第1章 電源管理
1 1 穩壓器
1 1 1 線性穩壓器
1 1 2 開關穩壓器
1 1 3 電源監測與保護
1 2 電源管理設計
1 2 1 電源管理器件
1 2 2 電源管理電路設計
1 2 3 晶元電源供應
1 3 電源分配網絡
1 3 1 電源分配網絡的構成
1 3 2 電源分配網絡的特性
1 4 電源完整性
1 4 1 電壓波動及影響
1 4 2 電源阻抗
1 4 3 去耦電路
1 4 4 分層解耦
1 4 5 片上電源分配網絡的電源完整性
小結
第2章 時鐘和複位管理
2 1 SoC時鐘管理
2 1 1 時鐘抖動
2 1 2 PLL
2 1 3 SoC時鐘架構設計
2 2 SoC複位管理
2 2 1 複位源
2 2 2 複位類型
2 2 3 SoC複位架構設計
2 2 4 複位域跨越
2 3 時鐘和複位模塊設計
小結
第3章 低功耗設計方法
3 1 系統級低功耗設計
3 1 1 評估晶元功耗
3 1 2 功耗管理
3 2 算法及架構級低功耗設計
3 2 1 算法級低功耗設計
3 2 2 架構級低功耗設計之一
3 2 3 架構級低功耗設計之二
3 3 寄存器傳輸級低功耗設計
3 4 綜合中的低功耗設計
3 5 物理級低功耗設計
3 5 1 工藝選擇
3 5 2 門級功耗優化
3 5 3 物理級功耗優化
小結
第4章 時序分析與簽核
4 1 偏差與時序影響因素
4 1 1 偏差
4 1 2 工藝角
4 1 3 環境角
4 1 4 片上變化
4 1 5 串擾
4 1 6 IR壓降
4 2 靜態時序分析
4 2 1 時序路徑分析模式
4 2 2 時序分析模式
4 3 基於變化感知的時序分析
4 3 1 AOCV
4 3 2 SOCV/POCV
4 4 晶元級設計約束
4 4 1 扁平式晶元級設計約束
4 4 2 模塊級時序模型
4 4 3 裕量
4 5 時序簽核
4 5 1 場景
4 5 2 信號完整性分析
4 5 3 電源完整性和功耗分析
4 5 4 時序收斂
4 5 5 ECO
小結
第5章 驗證
5 1 SoC驗證
5 1 1 驗證方法
5 1 2 驗證流程
5 1 3 驗證計劃
5 1 4 驗證平台
5 1 5 驗證層次
5 1 6 驗證質量管控
5 2 IP和模塊級驗證
5 2 1 IP驗證
5 2 2 模塊級驗證
5 3 系統級驗證
5 4 門級驗證
5 4 1 門級模擬的作用
5 4 2 不定態產生、傳播和抑制
5 4 3 門級模擬方法
5 4 4 門級混合模擬
5 5 DFT驗證
5 6 低功耗驗證
5 6 1 電源意圖規範驗證
5 6 2 低功耗形式驗證
5 6 3 低功耗模擬
5 7 ATE測試的模擬向量
5 8 通用驗證方法學
5 8 1 驗證技術的發展歷程
5 8 2 UVM組件
5 8 3 UVM常用類的派生與繼承
5 8 4 UVM驗證平台運行機制
5 8 5 UVM結構與通信
小結
第6章 可測性設計
6 1 SoC測試
6 1 1 SoC測試方法與結構
6 1 2 SoC的DFT技術
6 2 掃描測試
6 2 1 嵌入式確定性測試
6 2 2 模塊級掃描設計
6 3 內建自測試
6 3 1 MBIST電路
6 3 2 模塊級MBIST設計
6 4 IP測試
6 4 1 IP的直接測試
6 4 2 基於IEEE標準的IP測試
6 4 3 高速和數模混合電路測試
6 4 4 先進DFT技術
6 5 SoC的DFT和實現
6 5 1 測試目標和策略
6 5 2 DFT技術應用
6 5 3 測試模式下的時鐘設計
6 5 4 模塊級DFT設計和實現
6 5 5 晶元級DFT設計和實現
小結
第7章 虛擬化設計
7 1 虛擬化
7 1 1 虛擬化技術基礎
7 1 2 虛擬化技術
7 2 內存虛擬化
7 2 1 虛擬內存
7 2 2 處理器訪問內存
7 2 3 設備訪問內存
小結
第8章 安全設計
8 1 SoC安全設計
8 1 1 安全解決方案
8 1 2 TEE
8 1 3 信任根
8 1 4 安全啟動
8 1 5 安全調試
8 1 6 安全島
8 2 ARM TrustZone
8 2 1 處理器的安全設計
8 2 2 匯流排隔離機制
8 2 3 內存和外設隔離機制
8 3 RISC-V安全擴展
8 3 1 處理器的安全設計
8 3 2 隔離機制
小結
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