ASIC物理設計要點 (美)霍斯魯.戈爾山 9787030754974 【台灣高等教育出版社】

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書名：ASIC物理設計要點
ISBN：9787030754974
出版社：科學
著編譯者：(美)霍斯魯.戈爾山
頁數：150
所在地：中國大陸 *此為代購商品
書號：1524725
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內容簡介

本書旨在闡述ASIC物理設計所需的基本步驟，方便讀者了解ASIC設計的基本思想。本書以行業通用ASIC物理設計流程順序進行編排，從ASIC庫的一般概念開始，依次介紹布局、布線、驗證及測試，涵蓋的主題包括基本標準單元設計、晶體管尺寸和布局風格、設計約束和時鐘規劃、用於布局的演算法、時鐘樹綜合、用於全局和詳細布線的演算法、寄生參數提取、功能驗證、時序驗證、物理驗證、並聯模塊測試等。與直接闡述深層次的技術不同，本書重點放在簡短、清晰的描述上，抓住物理設計的本質，向讀者介紹物理設計工程的挑戰性和多樣化領域。 本書可供從事ASIC物理設計的工程師及設計經理參考，也可供高等院校電子科學與技術、電子信息科學與技術、計算機科學與技術、通信工程等專業師生閱讀。

目錄

第1章 庫
1 1 標準單元
1 2 晶體管尺寸
1 3 輸入/輸出PAD
1 4 庫參數化
1 5 總結
參考文獻
第2章 布局規劃
2 1 技術文件
2 2 電路描述
2 3 設計約束
2 4 設計規劃
2 5 PAD布局
2 6 電源規劃
2 7 宏模塊布局
2 8 時鐘規劃
2 9 總結
參考文獻
第3章 布局
3 1 全局布局
3 2 局部布局
3 3 時鐘樹綜合
3 4 功耗分析
3 5 總結
參考文獻
第4章 布線
4 1 特殊布線
4 2 全局布線
4 3 詳細布線
4 4 寄生參數提取
4 5 總結
參考文獻
第5章 驗證
5 1 功能驗證
5 2 時序驗證
5 3 物理驗證
5 4 總結
參考文獻
第6章 測試
6 1 功能測試
6 2 掃描測試
6 3 邊界掃描測試
6 4 故障測試
6 5 參數測試
6 6 電流和極低電壓測試
6 7 晶圓驗收測試
6 8 存儲器內建自測試
6 9 並聯模塊測試
6 10 總結
參考文獻
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