數字集成電路測試-理論,方法與實踐 李華偉 鄭武東 溫曉青 9787302662037 【台灣高等教育出版社】
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物品所在地：中國大陸
原出版社：清華大學
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| *完成訂單後正常情形下約兩周可抵台。 *本賣場提供之資訊僅供參考，以到貨標的為正確資訊。 印行年月：202406*若逾兩年請先於私訊洽詢存貨情況，謝謝。 台灣(台北市)在地出版社，每筆交易均開具統一發票，祝您中獎最高1000萬元。 書名：數字集成電路測試-理論,方法與實踐 ISBN：9787302662037 出版社：清華大學 著編譯者：李華偉 鄭武東 溫曉青 叢書名：集成電路科學與技術叢書 頁數：258 所在地：中國大陸 *此為代購商品 書號：1651844 可大量預訂，請先連絡。 內容簡介 本書全面介紹數字集成電路測試的基礎理論、方法與EDA實踐。第1章為數字集成電路測試技術導論，第2∼9章依次介紹故障模擬、測試生成、可測試性設計、邏輯內建自測試、測試壓縮、存儲器自測試與自修復、系統測試和SoC測試、邏輯診斷與良率分析等基礎測試技術，第10章擴展介紹在汽車電子領域發展的測試技術，第11章對數字電路測試的技術趨勢進行展望。 針對每一種數字集成電路測試技術，本書一方面用示例講述其技術原理，另一方面用電子設計自動化（EDA）的商業工具對具體實例演示技術應用過程（EDA工具應用腳本及其說明可在配套資源中下載），並在每章后附有習題。通過本書，讀者一方面可以學習到基本的測試理論和相關技術；另一方面，還可以對當今晶元設計流程和EDA工具鏈中測試技術的運用和實踐有所了解。 本書適合作為高等院校集成電路、計算機科學與技術、電子科學與技術等相關專業高年級本科生、研究生教材，也可供集成電路設計與測試行業的開發人員、廣大科技工作者和研究人員參考。作者簡介 李華偉，中國科學院計算技術研究所研究員，中國科學院大學教授，中國計算機學會集成電路設計專委會主任。研究方向為集成電路設計自動化、數字電路測試等，從事高校研究生課程教學多年，曾獲中國科學院教育教學成果獎二等獎、國家技術發明獎二等獎等。目錄 第1章 數字集成電路測試技術導論1 1 集成電路晶元開發過程中的測試問題 1 1 1 超大規模集成電路晶元的開發過程 1 1 2 設計驗證 1 1 3 晶元測試 1 2 測試技術基礎 1 2 1 故障模型 1 2 2 測試生成簡介 1 2 3 可測試性設計簡介 1 3 測試技術與EDA 1 4 本章小結 1 5 習題 參考文獻 第2章 故障模擬 2 1 簡介 2 1 1 邏輯模擬在測試中的作用 2 1 2 故障模擬在測試中的作用 2 2 模擬的基本概念 2 2 1 邏輯符號 2 2 2 缺陷與故障模型 2 3 邏輯模擬的演算法 2 3 1 邏輯模擬的基本演算法 2 3 2 邏輯模擬的演算法優化 2 4 故障模擬的演算法 2 4 1 故障模擬的基本演算法 2 4 2 故障模擬的演算法優化 2 5 本章小結 2 6 習題 參考文獻 第3章 測試生成 3 1 基本概念 3 2 測試生成的分類 3 2 1 非面向故障的測試生成 3 2 2 面向故障的測試生成 3 3 通路敏化法 3 3 1 基本原理 3 3 2 PODEM 3 4 測試精簡 3 5 時延故障的測試生成 3 6 實例介紹 3 7 本章小結 3 8 習題 參考文獻 第4章 可測試性設計 4 1 可測試性設計的重要性 4 2 可測試性分析 4 3 專用可測試性設計 4 3 1 測試點插入 4 3 2 影響電路可測試性的設計結構 4 4 掃描設計 4 4 1 掃描單元設計 4 4 2 掃描設計規則 4 4 3 掃描設計流程 4 4 4 基於掃描的測試過程和代價 4 4 5 基於掃描的時延測試 4 5 片上時鐘控制器 4 6 可測試性設計實例 4 7 本章小結 4 8 習題 參考文獻 第5章 邏輯內建自測試 5 1 基本結構 5 2 BIST對象電路 5 2 1 未確定值屏蔽 5 2 2 測試點插入 5 2 3 Re-Timing 5 3 測試向量生成 5 4 測試響應分析 5 4 1 串列特徵分析 5 4 2 并行特徵分析 5 5 測試時序控制 5 5 1 低速測試 5 5 2 實速測試 5 6 實例介紹 5 7 本章小結 5 8 習題 參考文獻 第6章 測試壓縮 6 1 測試壓縮的重要性 6 1 1 測試儀和測試數據帶寬 6 1 2 測試數據爆炸的挑戰和應對策略 6 2 測試壓縮模型 6 2 1 基本工作原理 6 2 2 測試激勵壓縮 6 2 3 測試響應壓縮 6 3 測試激勵壓縮方法 6 3 1 信息編碼法 6 3 2 廣播模式法 6 3 3 線性方程法 6 3 4 測試激勵壓縮方法對比 6 4 測試響應壓縮方法 6 4 1 不含X的響應壓縮 6 4 2 基於掃描鏈屏蔽的響應壓縮 6 4 3 基於X耐受性的響應壓縮 6 4 4 基於糾錯碼的響應壓縮 6 4 5 測試響應壓縮方法的對比 6 5 設計實例 6 6 本章小結 6 7 習題 參考文獻 第7章 存儲器自測試與自修復 7 1 存儲器基礎 7 2 存儲器的故障模型 7 3 存儲器測試演算法 7 3 1 March演算法 7 3 2 其他常用的存儲器測試演算法 7 4 存儲器內建自測試（MBIST） 7 5 存儲器內建自修復（MBISR） 7 6 對用戶透明的存儲器在線測試 7 7 MBIST設計實例 7 8 本章小結 7 9 習題 參考文獻 第8章 系統測試和Soc測試 8 1 系統測試 8 1 1 系統功能測試 8 1 2 系統診斷測試 8 1 3 ICT技術 8 2 Soc測試 8 2 1 從板上系統到片上系統 8 2 2 SoC測試的主要挑戰 8 2 3 測試訪問機制 8 2 4 核測試環 8 2 5 層次化ATPG 8 2 6 測試優化 8 3 針對系統測試和Soc測試的主要協議簡介 8 3 1 IEEE 1149 1標準 8 3 2 IEEE 1500標準 8 3 3 IEEE 1687標準 8 3 4 基於數據包的掃描測試網路 8 4 基於AI晶元的SoC測試案例分析 8 4 1 面向深度學習的定製AI晶元 8 4 2 AI晶元測試策略 8 5 本章小結 8 6 習題 參考文獻 第9章 邏輯診斷與良率分析 9 1 簡介 9 2 評估指標 9 3 掃描鏈故障診斷 9 3 1 掃描鏈可診斷性設計方法 9 3 2 掃描鏈自動診斷向量生成方法 9 3 3 掃描鏈失效晶元診斷方法 9 4 組合邏輯故障診斷 9 4 1 組合邏輯可診斷性設計方法 9 4 2 組合邏輯自動診斷向量生成方法 9 4 3 組合邏輯失效晶元診斷方法 9 5 良率學習 9 6 設計實例 9 7 本章小結 9 8 習題 參考文獻 第1O章 汽車電子測試 10 1 汽車電子簡介 10 1 1 發展概況和基本要求 10 1 2 主要挑戰 10 1 3 可測試性設計技術應用 10 2 汽車電子的功能安全驗證 10 2 1 基本概念 10 2 2 ISO 26262簡介 10 3 汽車電子的系統實時測試 10 3 1 基本概念 10 3 2 任務模式控制器 10 4 本章小結 10 5 習題 參考文獻 第11章 數字電路測試 詳細資料或其他書籍請至台灣高等教育出版社查詢，查後請於PChome商店街私訊告知ISBN或書號，我們即儘速上架。 |
